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WKDQN-X多点视频动静态位移检测系统

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  • 型号
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2021-10-26
  • 厂商性质其他
  • 入驻年限1
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一、简介:本产品采用目前国内外的图像散斑识别技术及图像模糊识别技术,现场无需靶标或其他特征标志点,仅一台主机即可同时测量多点动态挠度、静态挠度、位移和振动等数据
WKDQN-X多点视频动静态位移检测系统 产品详情

一、简介:

本产品采用目前国内外的图像散斑识别技术及图像模糊识别技术,现场无需靶标或其他特征标志点,仅一台主机即可同时测量多点动态挠度、静态挠度、位移和振动等数据。同时,对挠度仪的现场实用性进行了革命性升级,的基点修正、光影修正、全屏扫描等多项功能,将挠度仪的现场实用性推上了的高度。

 

 

二、产品特点:

● 基点功能

远距离非接触式挠度测量方法的问题就是仪器端受风力、地面振动、大地脉动等环境干扰因素影响较大,直接影响测量数据的可靠性和准确性。在使用此类仪器时,很多厂家给用户的建议通常是,环境干扰是不能克服的,只能在试验室或选择环境较好的现场来获得有效的数据。而我公司则一直致力于不断的完善仪器性能,提高仪器的稳定性来适应现场的使用环境。所以,我公司研制的WKDQN-X型多点视频动静态位移检测系统较国内其他同类仪器,除具有基线平移功能外,可把视野范围内任意固定点设置为基点,有效的消除环境因素对仪器端的影响,大幅度的提高了仪器的稳定性和准确性。

 

● 光影修正

光学仪器受光影变化影响非常大,尤其是在做荷载试验时。如果检测时间超过30分钟以后,受太阳光影变化的影响,会出现测点偏移的情况(我们一般称为跑点)。通往我们研发人员的不断努力,在软件中加入的大量算法之后,把临近的两幅图片作为参考,实时修正被测点的灰度值,就可以克服光影变化对测点的影响。

 

● 全屏扫描功能

一般的挠度检测设备在使用过程中,要求通视,测试过程中不能有任何遮挡,否则测点将会丢失。而我公司的产品由于增加了全屏扫描功能,在测试过程中,如果有飞鸟、飞虫、树叶或其他偶发因素对仪器视野进行遮挡了,在短暂遮挡结束后,通过全屏自动扫描原测点的特征值,可以很快的找回遮挡前的测点。

 

● 高速测量

本系统采用4核8线程64位操作系统作为软件运行平台,软件算法采用一阶形函数,而国内其他同类仪器采用的32位操作系统和零阶形函数的算法,直接导致运算速度和处理能力较我们现有产品相差很多。所以,当我们的产品在117Hz时可以采集30个动态挠度点时,其他厂家的产品在110Hz时只能采集到8个动态挠度点。

 

三、技术参数:

◆ 控制器:笔记本采用四核八线程酷睿处理器,8G内存,64位操作系统

◆ 软件增项:基点修正(消除自然环境对仪器端的干扰),光影修正(消除光影变化干扰),全屏扫描(消除短期遮挡干扰),基线平移

◆ 检测距离:0.1~500m

◆ 视场范围:0.01mm~300m

◆ 检测分辨率:视场范围的十万分之一(例:视场为10m×7m,则分辨率约为0.1mm)

◆ 测量精度:±0.02mm(检测距离10m)

◆ 测距精度:±1mm

◆ 倾角精度:2″

◆ 镜头焦距:8/16/50mm

◆ 检测模式:现场模式或录制工况视频

◆ 动态测量点数:30个测点(117HZ)

◆ 静态测量点数:无限制

◆ 采样频率:0.01~117Hz



关键词:光学仪器
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