技术指标
1 | 外观尺寸 | 550（W）×420（L）×330（H） |
2 | 样品腔尺寸 | 460（W）×325（L）× 90（H） |
3 | 探测器 | 采用Si-PIN硅针半导体电制冷探测器，分辨率达165eV。电制冷，无需液氮制冷，可常温保存，使用方便。 |
4 | 探测器制冷方式 | 电制冷 |
5 | 分辨率 | 达到165±5eV（计数率1000/S左右时使用Fe55测得） |
6 | 工作方式 | 电致冷 |
7 | X射线产生装置及靶材 | 采用W靶大功率光管。管电压可在5-50KV电压中，每1KV自动控制切换。以便更好的检测样品中重金属元素，从而延长光管寿命。 |
8 | 管流 | 50μA-1000μA |
9 | 高压 | 5kV-50kV,可自由调节 |
10 | 准直器 | 8个 |
11 | X射线滤镜 | 5种 |
12 | X射线照射面积 | 8.0mm、6.0mm、4.0mm、3.0mm、2.0mm、1.0mm、0.5mm、0.2mm |
13 | 分析元素 | S(16)-U(92) |
14 | 元素测量范围 | PPM级-99.99% |
15 | 测量精度 | ±0.05（含量高于96%以上的样品，21次测试稳定性） |
16 | 元素检出限 | 检出限1ppm |
17 | 测量时间 | 60-300秒 |
18 | 照射光路 | 下照式，方便液体、粉末样品的测试。 |
19 | 测试样品类型 | 固体、液体、粉末 |
20 | 样品环境 | 大气 |
21 | 样品观测装置 | 内置500W像素高清晰CCD摄像头手动打开 |
22 | 样品测试平台 | 二维微位移移动平台，保证小样品或者多点测试时定位 |
23 | 样品腔控制方式 | 手动打开 |
24 | 仪器重量 | 45kg |
25 | 消耗功率 | ≤100W（不包含电脑） |
26 | 仪器散热方式 | 高效风冷。 |
27 | 应用行业范围 | 有害元素分析、元素成份分析（磁性材料）、合金分析 |
28 | 数据显示 | WINDOWS操作系统，中文与英文相互切换。三种报告形式显示。 |
29 | 标准配件 | 检测仪、电脑、打印机 |
