MLB－300CD型引伸计标定仪
MLB－300CD型引伸计标定仪，是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762－92引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。
结构特点及读数方式
1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置专用配件进行精密微变形量计量。
2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其量程30㎜； 最小分度（游标分度）0.0002㎜；旋转外筒分度0.002㎜。
位移变化读数为：
L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)
其中：a－内筒毫米刻线读数
b－外筒刻线读数
c－游标刻线读数
a0 b0 c0 为相应位移变化前读数
精密微分筒
二、各项技术精度指标
1、测量引伸计标距范围Ｌmax 500㎜
2、测量支座上支臂安装孔径 φ10；φ28
3、微分测头读数内筒轴向刻度 0.5㎜/格
4、微分测头读数内筒游标刻度 0.0002㎜/格
5、微分测头读数外筒园周刻度 0.002㎜/格
6、高精密微分测头精度指标
标定仪示值误差：
量程0.5㎜以内≤0.5μm 误差
量程0.5㎜以上≤0.10% 逐点相对误差
参照标准：
JJF1096-2002 引伸计标定器校准规范
ISO9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定
JJG762-1992 引伸计检定规程
可进行0.5级引伸计的标定
三、使用说明
请依据JJG762－92引伸计检定规程要求，进行引伸计的检定：
1、根据被检引伸计的规格型号及测试的试样规格，选择与测试试样基本一致的分离试样。
2、调整两测量支臂的位置，获得适宜的检定空间；调整两测量支臂上偏心卡簧位置以使两分离试样保证同轴；调整测微头与下底座的距离，以保证测微头的有效行程。一切调整好后注意旋紧各个所需固紧部位，在检定过程中除准许运动位移的部分外，都不准许有任何滑动或松动。
3、引伸计检定范围及检测点的选择与测试：
（1）检定范围应根据引伸计需要测试材料的技术参数决定。例如，使用50㎜标距引伸计测试钢材试样的σP0.2技术数据，那么请您选择1㎜的检定量程。如果测量n值则需要检定25㎜的检定量程。
（2）对检定点的选择，一般每个范围不少于8点。对于上述选例在1㎜的检定量程内，检定10点，即每0.1㎜检一点。
（3）检定引伸计时一定用整数刻度倍读法，不要用游标估算读数或小数尾数读数，因为每一次的十点读数已造成了读数的疲劳，估算读数或小数尾数。
读数会加剧测量误差的产生。而整数单刻线对整读法最清晰简单准确，出现误差的机率最小，即便出现也会及时发现，因为整数刻度倍读数的误差，其引伸计误差值也会成倍数增加，这种粗大误差会被很快及时发现。
4、加长立柱的使用：在使用基本立柱检定引伸计时，无法保证该引伸计的标距空间时，取掉基本立柱上保护帽，将加长立柱插入主立柱对准V型槽，旋紧上螺丝。一定要固紧后，方可使用。
四、随本仪器配有测量附件
1、组合校准杆2件。用于组合多种模拟分离试样。
2、刀片4件。装置于组合校准杆上：用于COD或JIC夹规检定。
3、横试片2件。装置于组合校准杆上：用于横向引伸计的检定。
4、板件2件。装置于组合校准杆上：用于模拟板材试样的检定。
5、φ10×100杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟10㎜以上直径试样的检定。
6、φ10×50杆件1件。置于测微头连接套内用于模拟10㎜以上直径试样的检定。
7、φ10/φ5×100变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5㎜以下直径试样的检定。
8、φ10/φ5×50变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5㎜以下直径试样的检定。
9、170㎜加长立柱1件。用于延长标定仪高度。
10、联接套1件。置于微分测头滑动量杆φ10端头上，连接分离试样进行检定。
11、为调试及安装方便，随仪器配有14号呆扳手一把、3号内六角扳手一把、一字头、十字头螺丝刀各一把。
测量附件
五、维护与保养
1、上、下支臂拆装时，应防止定位钉或钢球的脱落，抱紧卡口过紧只允许用螺钉顶开。
2、器出厂时微分头精度已调校，使用中不得自行拆卸。
3、应在清洁无尘环境使用，并注意随时保持仪的清洁无尘。
4、注意防止外力损伤及锈蚀的产生。
5、定期交有关计量部门复检。
