38DL PLUS测厚仪 是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
| 测量 | |
| 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延时到个回波之间的时间间隔。 |
| 穿透涂层测量模式 | 利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。 |
| 穿透漆层回波到回波测量模式 | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
| 单晶探头测量模式 | 模式1：激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 模式3：在激励脉冲之后，位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 氧化层模式：可选。 多层模式：可选。 |
| 厚度范围 | 0.080毫米635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。 |
| 材料声速范围 | 0.508 mm/μs13.998 mm/μs |
| 分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米 标准分辨率：0.01毫米 高分辨率（可选项）：0.001毫米 |
| 探头频率范围 | 标准：2.0 MHz30 MHz（-3 dB） 高穿透（可选项）：0.50 MHz30 MHz（-3 dB） |
| 一般规格 | |
| 工作温度范围 | -10°C50°C |
| 键区 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。 |
| 机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
| 外型尺寸（宽 x 高 x 厚） | 总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
| 重量 | 0.814公斤 |
| 电源 | AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。 |
| 锂离子电池供电时间 | 工作时间：最少12.6小时，一般14小时，最多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。 |
| 标准 | 设计符合EN15317标准。 |
