产品介绍：
1412HR-NDT是一款大面积的平板X射线探测器专门设计的用于无损检测系统和科学成像应用，它的基本结构为一个数字化的CMOS芯片粘接到radiation-hard的光纤面板（FOP）一侧，FOP另外一侧直接连接一块厚度为250 µm CsI的闪烁体。
探测器像素尺寸为50µm，分辨率为2800×2400，14bit数字化输出，具有两种增益模式，通过选择像素的增益，探测器可以工作于低噪声单发模式和高灵敏度实时模式。全分辨率读出帧率高达29FPS，非常适用于实时监测和工业CT。可设置的感兴趣区域，使得探测器可以在更高的帧率下工作，在4cm的区域下帧率高达90fps。
| 像素尺寸 | 50μm×50μm | 最小ROI尺寸 | 2 rows |
| 分辨率 | 2800×2400 | 读出结构 | 卷帘快门 |
| 有效区域 | 14cm×12cm | 传感器温度范围 | -20℃-100℃ |
| 传感器类型 | CMOS数字传感器，14bit | 无损读出模式 | 可选 |
| 增益模式 | 高增益（快曝光） 低增益（低剂量） | 同步接口 | Sync in（TTL）, sync out（opto- switch）, SMB sockets |
| 闪烁体 | 250μm CsI | 触发模式 | 连续/软件触发/硬件触发 （同步输入）/自动触发 |
| 窗口材料 | 碳纤维，并标记有效探测区域 | 接口 | USB 3.0 C type |
| 帧率（全帧） | 29fps | 功耗 | 3.5W |
| 帧率（ROI模式） | 14μs/row | 工作温度 | 0-60℃ |
