公司介绍：
德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善，为重工业，化学，制药，半导体产业，生命科学和纳米技术提供解决方案，是可靠，高效和用户友好型产品，具备德国制造的精髓。
产品介绍：
由狭缝造成的寄生散射是X射线分析中是的问题，用户和制造商不得不调整实验装置以避免这种现象。更低光子通量造成实验时间增加，更大光束截捕器造成分辨率下降，额外配置防散射针孔造成光束塑形针孔到样品距离增加，以及总体更低信噪比造成数据质量下降。
新型SCATEX针孔基本不产生寄生散射，并且克服了上述问题： 因此，防散射针孔可被移除，系统尺寸缩小，分辨率与光子通量提高，数据质量得到改善。
产品特点：
无针孔寄生散射
分辨率与光子通量增强
针孔的调整校准更加简便快速
无需放散射针孔
可提供特殊的解决方案
同步辐射以及家庭实验室SAXS系统成功验证
基本参数：
| 材质 | 单晶锗(Ge) | 单晶钽(Ta) |
| 孔径 | 20-3000 um | 100-2000um |
应用介绍：
常规实验室系统上的应用
常规实验室中的SAXS仪器通常使用三针孔准直系统，其中前两个针孔用于限定光束的大小与发散角， 第三个针孔充当防辐射针孔以用来吸收孔径产生的寄生散射，如下图所示。
与此相反，SCATEX针孔在常规实验室SAXS装置应用中具有很高的潜力，因为其提高光子通量同时降低主光速路径长度。下图中体现了SCATEX针孔大幅度抑制寄生散射。
Fig.2 Comparison of a conventional Pt/Ir pinhole and a SCATEX-Ge pinhole, both with 300 μm diameter. Measurement time: 100 s.
图中的两种类型针孔（即市售Pt/Ir常规针孔和SCATEX锗针孔），其大小相同（均为300μm），其最后的成像效果都是在同样的没有放置防辐射针孔的两针孔SAXS设备条件下进行的。所测试的孔被在一次束并作为光束限定针孔居中地对准。
同步辐射上的应用
无散射锗针孔
以下测试都是C.Gollwitzer在同步辐射（BESSY II）的PTB的具有四晶体单色器光束线站上进行，其输出能量为8kev，光通量大于1010ph/s。所有的测试针孔作为光束限定针孔被放置于主光束中心进行校准，同时没有使用防辐射针孔。
下面对不同的针孔进行了比较：
1、铜箔的500μm针孔；2、市售的500μmPt/Ir针孔；3、锗制SCATEX针孔。即使在10倍的测量时间下，SCATEX针孔引起的寄生散射少2- 3个数量级。由于SCATEX针孔优异的结构质量，其展示了在更高Q值空间散射的减少和环形的散射图案。
Fig.3 Scattering intensity vs. q-plot. Data are corrected for respective exposure times and normalized to the primary beam photon flux and to the solid angle.
