无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
半导体元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
半导体材料:半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。
液晶材料:液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。
测试频率: 20 Hz 至1MHz
测试电平: 5 mV至20 V
测量参数: |Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ
测量度: 0.05%
测量速度:快速: 32 ms, 中速: 90 ms, 慢速: 650 ms
等效方式:串联、并联