设备用途Equipment use
PCT高压加速老化试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
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广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
产品 · 特点Product features
标准设计更安全
内胆采用圆弧设计防止结露滴水,符合国家安全容器规范;
自主设计
大型彩色液晶触摸控制器,侧面缆线孔方便外部负载及内部数据连接,通过选购接口可进行网络监控;
全自动补水
试验开始时系统自动一次加足试验所需用水,试验不中断;
低噪音设计
运行音量可达65db*标准;
智能化高
支持电脑连接, 利用USB数据、 曲线导出保存