宇问EC-770两用涂层测厚仪
宇问EC-770两用涂层测厚仪的产品介绍：
·宇问EC-770两用涂层测厚仪，能同时测量磁性基材表面（如钢、铁等）的非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、铬等），以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层（如油漆等）。
·内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。
·用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准，让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单，确保您非常容易的使用它。
宇问EC-770两用涂层测厚仪的产品特点：
·大点阵液晶屏，标准化菜单操作。
·两种测量模式：单次（Single)和连续(Continuous)。
·两种组模式：直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组。直接组关机后数据自动全部清除。通用组数据将自动保存，关机不丢失。每组可存储80个数据。
·可零校准和多点校准(*多四点)。各组有单独的零校准和多点校准，组与组之间不影响。
·用户可随时查看当前工作组已测得的数据，并删除数据或整组数据。
·实时显示当前工作组统计值：平均值(Mean),*小值(Min)，*大值(Max),标准方差(Sdev)。
·三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current)。
·可为各组单独设置高低限报警值，超*屏幕指示报警。
·可开启或关闭自动关机功能。
·USB接口可传输通用组数据到计算机。
·低电和错误提示。
宇问EC-770两用涂层测厚仪的技术参数：
·测量原理：磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）。
·测量范围：0～1300µm。
·测量误差：±(读数的3%+2um)。
·精度：0-999µm(1µm), 1000-1300µm(0.01mm)。
·校准：零点校准，并支持*多4点校准。
·数据存储与分组：一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置。
·统计值：支持平均值、*小值、*大值和标准方差。
·支持单位：µm, mm, mils。
·报警：用户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示。
·*小曲率半径：凸1.5mm，凹25mm。
·*小测量面积：直径6mm。
·*小基材厚度：0.5mm（F探头）；0.3mm（N探头）。
·电脑接口：可通过USB口连接计算机下载数据。
·电源：两节1.5V AAA电池。
·操作温度：0-40℃。
·保存温度：-20～70℃。
·尺寸：110*53*24mm。
·重量：92g。
宇问EC-770两用涂层测厚仪的标准配置：
·仪器主机
·基体铁铝各一块
·标准片5片
·USB数据线1根
·1.5V AAA电池两节
·使用说明书
·保修卡
·合格证
