FT-393系列手持式方块电阻测试仪
一、 概述：
参照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集高精密集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外形结构，可充电式电源系统，中英文语言版本.
二、 功能介绍：
便携式外形结构更加适用于车间生产、品管抽检，外出携带测量等要求快速便捷测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.具有高性价比优势.
液晶显示，显示方阻、电阻率、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度，样品厚度单位从米到纳米均可输入，自动测量、质量轻便，操作简便；
三、适用范围：
广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等.
四、技术参数资料
规格型号 | FT-393A | FT-393B | FT-393C |
1.方块电阻范围 | 0.01～2.00×102Ω/□ | 0.01～2.00×103Ω/□ | 0.01～2.00×104Ω/□ |
2.电阻率范围 | 0.001～2×103Ω-cm | 0.001～2×104Ω-cm | 0.001～2×105Ω-cm |
3.分辨率 | 0.001Ω | 0.001Ω | 0.001Ω |
4.显示读数 | 液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 | ||
5.测试方式 | 单电测量 | ||
6.工作电源 | 5V,1000mA | ||
7.整机不确定性 | ≤4.5%（标准样片结果） | ||
8.选配 | 选配1.方形探头； 选配2.直线形探头；探针间距；选配3：探针间距1mm；2mm；3mm三种规格; 选配4：探针材质：碳化钨针;镀金磷铜半球形针 | ||
主要销售：LCR测试仪,,信号发生器,数字存储示波器,绝缘电阻测试仪扭力扳手扭矩扳手耐压测试仪直流电阻测试仪数字电桥等等测量仪器，测试仪器，工具等。扭力测试仪瓶盖扭力测试仪数字电桥,扭力扳手
:
在订货前*好还是致电我们，以确定货期和数量。
