一、高温四探针测试仪器产品简介

          HEST-800高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高**度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

        HEST-800系列采用自主开发*的电子护系统，设备的安全性；选用进口热电偶保定温度的采集有效值、采用*的的SPWM 电子升压技术，电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。

        HEST-800系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电 流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。高精度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料，也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。针探针测试仪做了多项安全设计，测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制：当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。

二、高温四探针测试仪器适用范围

多晶硅材料

石墨烯材料

石墨功能材料

半导体材料

导电功能薄膜材料

锗类功能材料

导电玻璃（ito）材料

柔性透明导电薄膜

其它导电材料等

三、高温四探针测试仪器产品功能

█多功能真空加热炉，一体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试

█ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度，

█ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率；

█ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能;

█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更准确；

█ 仪器可自动计算试样的电阻率pv;

█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠；

█  程控电子升压技术，纹波更低、TVS防护系统，保证仪器安  

█99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针；

█huace pro 强大的控制分析软件。