■本产品运用了元件测试领域的全新技术，测试能力可达到甚至超越Agilent4363B的水平，提供了****的*高测量速度15ms/次，尤其是解决了长期困扰测试部门低频测试速度慢的难题，为低频元件如电解电容器、变压器的高速测试提供了解决方案。
多种可选的信号源阻抗模式
■不同LCR表由于输出阻抗的不同可能得到不同的测试结果，TH2825A提供五种可选的阻抗模式以适应不同的需要，保证不同仪表间测试结果的一致性。
恒电平模式适用于多层陶瓷电容器(MLCC)的测量
■陶瓷电容器（MLCC）对测试信号电平极为敏感，TH2825A能以恒定的高电平测试信号高速测量大容量陶瓷电容器，允许在恒定1kHz/1Vrms条件下对高达30μF的MLCC进行测试，100Hz测量可对300μF电容器提供恒定的1Vrms测试信号。
强大的变压器测试能力
■TH2825A具备变压器测试能力，使用专门的变压器测试夹具，无须改变测试线方式便可方便地测量匝数比（N，1/N）、互感（M）、初次级电感（LA、LB），初次级直流电阻（DCR2）。有-5V-5V偏置电压（仅TH2825A），可方便地用于通讯变压器和小功率扼流圈的测试。
■该产品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令与Agilent
与仪表的接口兼容性
性能特点：
■ 超高速测量：15ms(测试频率≥100Hz时)
■ 大型LCD(240×64点阵)显示
■ 人性化引导式操作界面
■ 50Hz－100kHz, 10个典型测试频率
■ 10mVrms—1.0Vrms可编程测试电平
■ 内部DC偏流源高达200mA（使用25Ω内阻）
■ 准确的负载校准功能
■ 4种可选源阻抗模式，便于兼容不同LCR表的测试一致性
■ 4点频率/电平/偏流列表扫描功能
■ 变压器参数测量能力
■ 12组内部仪器设定储存
■ 内建9档比较器，分选及档计数
■ 具有良品/非良品（Hi/Go/Low）警示声响判定功能
■ 测试电平V/I监视功能
■ 与Agilent 4263B兼容的Handler接口
■ 与Agilent4263B兼容的IEEE-488控制命令
技术参数：
型号 | TH2825A | ||
显示器 | 240x64点阵LCD显示器，5位读数分辨率 | ||
测试参数 | LCR参数 | |Z|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR | |
变压器参数 | DCR，DCR2，M,N，1/N，LA，LB | ||
测试频率 | 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10点 | ||
测试电平 | 10mVrms-1.0Vrms,1mV步进＜200mV10mV步进≥200mV | ||
信号源内阻 | 25Ω，100Ω，25Ω/100Ω，C.V.（恒压） | ||
DC偏置电流（≥1kHz） | 当100Ω内阻时，±50mAMax当25Ω内阻时，±200mAMax | ||
基本测量准确度 | 0.1% | ||
| |Z|,R,X | 0.01mΩ—99.99MΩ | |
| G,B | 0.0001μS—999.99S | |
| C | 0.001pF—1.9999F | |
| L | 0.001μH—99.9999kH | |
| Q | 0.0001—9999 | |
显示范围 | D | 0.0001—9999 | |
θ(DEG) | -180.00°—180.00° | ||
| θ(RAD) | -3.1415—3.1415 | |
| Δ% | -999.99%—999.99% | |
| TurnsRatio | 0.001—9999.9 | |
| DCR | 0.1mΩ—99.99MΩ | |
| M,L2 | 0.001μH—99.99kH | |
测量速度（≥100Hz） | 快速:15ms（注1）,中速:66ms,慢速:500ms | ||
等效电路 | 串联,并联 | ||
量程方式 | 自动,保持/手动切换 | ||
触发方式 | 内部,手动,外部，总线 | ||
平均次数 | 1—255 | ||
校准功能 | 开路,短路,负载校正 | ||
测量端 | 5端 | ||
显示方式 | 直读,ΔABS,Δ%,V/I(电压/电流监示),档号及档计数 | ||
列表扫描 | 4点频率,电平列表扫描测试 | ||
比较器功能 | 九档（八档合格，一档不合格） | ||
上超/合格/下超比较器 | |||
存储器 | 12组内部仪器设定供存储/调用 | ||
接口 | RS-232C,HANDLER,GPIB(选件) | ||
| 4263B*兼容，为与4263B的互换提供了良好的条件。 | ||
| 注1：快速测试时间包括A/D、计算、主/副参数小字符显示比较判别。若包括测试参数大字符显示，*快测试时间另加5ms。 | ||
