半导电性粉体电阻率测试系统代替三菱化学MCP-PD51
半导电性粉体电阻率测试系统代替三菱化学MCP-PD51
| 品名称： | 粉体阻抗测定系统 MCP-PD51 |
| 特色： | ﹢用于研究开发、质量管理线，执行粉体之物性管理 ﹢与阻抗率计Loresta-GP,Hiresta-UP连接，以测定广范围之粉体之低阻抗、高阻抗 ﹢样品的交换、清扫简单、可采一触式着离探头 ﹢各种粉体的形状，粒径分布之不同依压力依存性把握其阻抗率及压缩容积 ﹢测定及数据、备有达执行图形化之软件以供选购 |
| 测定对象： | 金属粉、碳粉类、陶磁粉…等导电性粉体 |
阻性粉末材料研发及品质控制
一、 eLiPMS-2000plus 粉末电阻率测试系统安装的现场条件：
1) 主体部分: 约 W340*D270*H630mm（不含包括展开搬运手柄及 MCP-T700 部分尺寸）；
2) 安装空间： 需大于 W1500*D700mm 的台面(考虑电脑及操作的空间)；
3) 工作台承载： 预备承载大于 70kg 工作台；
4) 电源：220V/50Hz/500VA，标准专用地线。需大于 3 个电源插座孔位。
二、 eLiPMS-2000plus 粉体电阻率测试系统组成、功能、性能表： 1、产品综述及特点：
1) 内置的精密四探针探头模腔组件及精密荷重测力传感器单元，施加压力 30KN，约 95MPa； 在压力范围内可设置任意压力点进行测试分析。一键启动，自动进行加压、测试、释放。
2) 简易操作软件界面，可设置不同压力点及保压时间（保压时间到再测试），自动测量压实下粉 末之电阻、电阻率、电导率、厚度、压强、颗粒压实密度特性等参数。
3) 系统通过与三菱化学 LORESTA-GX(MCP-T700)高精度四探针仪连接，可测试宽范围之粉体阻 抗特征。 电阻测试范围：0.001*10-4~9.999*107 Ω； 电阻率=Ω*RCF*t（RCF 为纠正因子，t 为厚度单位 cm）
4) 的探针单元，高精度四探针测试原理，消除样品与探头及引线所引起的误差。 也可以裁剪φ20mm 的正负电极片样品来测试电池极片在不同压力下的电阻变化； 或者单独使用 MCP-T700 及其标配探头或选配探头来测试片材，所谓多用途。
2、应用范围： 阻性粉末材料研发及品质控制。
3、测试领域： 碳 粉--- 充电电池的电极材料、电子材料（电容器，电阻等）、活性炭、焦、石墨、碳黑色、
碳纤维纳米碳等。 金属粉末--- 电池的电极材料、薄膜材料（铜粉末、ITO 粉末等等）、导电膏、
导电油漆和涂料、绿 色接触材料等。 其它粉末--- 墨粉和相关的粉体/磁性材料如铁素体、汽车配件等材料。
