对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。
1. 快速测量
与之前的机器SEA1000AII相比，每个样品的测量时间*都缩短了。例如，树脂类样品测量时间缩短了约1/3，金属类则缩短了1/10。实现了处理量（每天可测样品数量）的飞跃性提高。
| 塑料中的 Cd,Pb,Hg,Br,Cr | 高浓度BrSb塑料中的 Cd,Pb,Hg,Cr | 黄铜中的 Cd,Pb,Hg,Br,Cr | |
|---|---|---|---|
| EA1000VX | 约30秒 | 120秒以内 | 200秒以内 |
| SEA1000AII | 约100秒 | 360秒以内 | 2000秒以上 |
表.1 为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间（平均值）
*Cd为20 ppm，除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测限所必要的总共时间。（本公司推荐条件下实施）2. 高技术率检测器（Vortex）
不需要液氮，使用15万cps的高计数率检测器（Vortex）测量高灵敏度化，实现快速测量及高精度测量等。
3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能，强化了有害物质测量功能—材料判断功能
测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往，在测量前需要选择分析菜单，由于装置可以自动判断材质，不会在选择分析菜单时感到迷茫。
4. 提高操作性—操作面板
根据操作面板的指示器和提示音，了解测量进度。根据测量面板的进度条，把握测量进展。
5. 各种环境限制用的标准物质
除RoHS指令的管理对象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。
6. 自动进样器（选购项）
自动进样器最多可连续测量12个样品。
7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理
使用精度管理软件使测量时间变短，通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理（检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成），可测量检查的效率，达到消减成本。
| 测量元素 | 原子序数Al(13)～U(92) |
|---|---|
| 样品形状 | 液体、粉体、固体 |
| X射线源 | 小型空冷室X射线管 管电压50（可变） kV 管电流10～1000 µA |
| X射线照射方向 | 下方垂直照射型 |
| 检测器 | Si半导体检测器（无需液氮） |
| 分析区域 | 1、3、5 mmΦ（自动切换） |
| 样品观察 | 彩色CCD摄像头 |
| 滤波器 | 5种模式自动切换 |
| 样品尺寸 | 370(W)×320(D)×120(H) mm |
| 仪器尺寸 | 520(W)×600(D)×445(H) mm |
| 重量 | 60 kg |
| 电源/额定功率 | AC100～240 V(50/60 Hz)/210 VA |
| 样品交换机 | 可安装 *选购项 |
选购项
- 薄膜FP软件
- 薄膜检量线软件
- 能谱匹配（跟已登陆的标准物质能谱比较）
- 环境限制物质测量软件Ver.1
- 各种标准物质（各种环境限制用标准物质、无铅焊锡标准物质、无铅焊锡箔标准物质）
- 信号灯
