X射线荧光镀层测厚仪
产品型号： X-Strata 960
产品说明：
主要应用领域：用于高精度要求电路板/半导体/连接器端子/五金贵金属电镀(如1.0uinch Au，Ag…)
主要特点:
- X-Strata 960 X荧光射线测厚仪，可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度和元素组成。
- 长寿命100瓦微焦点X射线管(其他测厚仪为50瓦)。提高30%分析精度和减少50%的分析时间。
- 三种样品台可供选择:程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm;
手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴;
固定位置样品台，高度230 mm更小准直器,测量更小区域:最小直径15um 圆
形准直器，20x/80xCCD图像放大倍数自由距离测量DIM： 更灵活地测量不规则
样品(凹凸),在12.5~102mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点。
- 配有自动雷射聚焦功能 一体机工作站式设计，简化设备安装，减少占用空间。
仪器介绍:
CMI960系列 X射线荧光测厚仪样品台采用箱体式设计‘能测量多种几何形体、各种尺寸的样
品’，测定方法满足ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987
技术参数:
- 元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体)；最多同时15种元素定量
- X射线激发:100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管(可选钼靶X射线管)
- X射线检测: Xe封气正比计数器，可最多装备3种二次滤光片
- 准直器: 最多4种
- 多种规格备选样品形态: 电镀、涂镀、薄膜、合金、液体、等等
- 数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动波谱校正和Pulse Pile Rejection功能
- CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
- 电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz
- 工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
- 样品台移动量: 程控XYZ轴：300 x 200 x 230mm; 手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴
- 仪器尺寸:H744 x W686 x D813
- 重量: 160公斤
