TESA Hite plus M自动型一维测高仪-仪表网

公司介绍主营产品

CPJ系列数字式测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像，测量简易直观，效率高。仪器光学质量优良，物镜成清晰，放大倍率准确。在透射光照明下，轮廓测量误差小于0.08%。轮廓投影仪广泛用于机械、仪表、电子、轻工等行业院校、研究所、计量检定部门。本仪器能高效检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状，如样板、冲压件、凸轮、螺纹、齿轮、成形铣刀等。
产品特点
CPJ-3000Z系列数字式测量投影仪结构紧凑，外形简洁美观，经济实用，可靠性好，坐标示值误差可达(3 L/75)m,轮廓投影仪能够高效的对工件进行直接测量和比较测量，例如：冲压件、齿轮、螺纹，*等。数字式投影仪在机械制造、电子、模具、仪器仪表和钟表等行业都得到了广泛的应用。
技术规格参数
仪器型号正像型 CPJ-3015Z
工作台金属台面尺寸(mm)340*152
玻璃台尺寸(mm)196*96
X坐标行程(mm)150

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产品简介在线询价

TESAHITEPlusM400/700一维自动高度仪源于长期以来持续不断的技术创新，Tesa推出全新的TESAHiteplusM400和700拥有接触的性能价格比处处体现着tesa经历验证的专业计数●应用范围广泛●电子装置弯曲防护

TESA Hite plus M自动型一维测高仪产品详情

TESA HITE Plus M 400/700 一维自动高度仪

源于长期以来持续不断的技术创新， Tesa推出全新的TESA Hite plus M 400和700拥有接触的性能价格比处处体现着tesa经历验证的专业计数

● 应用范围广泛

● 电子装置弯曲防护。可防护液体或灰尘颗粒侵入

● 内置空气轴承

● 的tesa光电测量系统

● 全新的符合人体工程学的控制面板

● 控制面板设计直观，操作方便

● 具备1D/2D几何测量功能

● 具备“自学习”功能，可生成循环使用的测量程序

● 统计数据处理

● 多种可选附件于tesa其他型号测高仪相兼容

● 每台测高仪带有SCS 校准证书

技术规格	TESA Hite plus M 400	TESA Hite plus M 400
订货号，不带打印机
订货号，带打印机
量程 mm	405	705
应用范围（使用测头座）	560	860
应用范围（使用测头座）	615	915
应用范围（使用测头座S）	785	1085
允许误差	（2.5+3L）μm	（2.5+3L）μm
重复性：平面内（2S）	≤ 1μm	≤1 μm
内 (2S）	≤2μm	≤2 μm
分辨率	0.0001/0.001/ 0.01mm	0.0001/0.001/0.01mm
重量	27KG	32KG
数据输出	RS-232	RS-232
防护等级	电子面板IP65，其余IP40
工作温度	20℃±0.5℃		20℃±0.5℃
操作温度	10℃-40℃		10℃-40℃
工作电源	6V可充电源		6V可充电源

关键词：测高仪打印机

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