主要参数：
半导体器件高精度测量
上限达2000V或电流到10A的源（370A）
上限到3000V（371A）
上限到220W（370A）
上限到400A（371A）
1nA的测量分辨率
上限到3000W（371A）
上限到2mV的测量分辨率（370A）
波形对比
包络显示
波形平均
点光标（370A）
Kelvin传感测量
全程控
MS-DOS兼容的软盘，方便设置参
主要参数：
半导体器件高精度测量
上限达2000V或电流到10A的源（370A）
上限到3000V（371A）
上限到220W（370A）
上限到400A（371A）
1nA的测量分辨率
上限到3000W（371A）
上限到2mV的测量分辨率（370A）
波形对比
包络显示
波形平均
点光标（370A）
Kelvin传感测量
全程控
MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程控
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
技术指标集电极电源模式 AC，±DC，±泄露，±整流的正弦波范围大峰值电流（±）峰值电流（脉冲式）（±）16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器模式阶梯：DC，80μS脉冲，300μS脉冲阶梯量程-电流：50nA到200mA，按1-2-5顺序电压：50mV到2V，按1-2-5顺序偏大到±10X阶梯幅度阶梯数 0到10测量特性集电极电流-测试量程：100nA/div（1nA分辨率）至2A/div误差，1.5%光标读出＋0.05div设定值（点光标）发射极电流-测试量程：1nA/div（10pA分辨率）至2mA/div 误差 1.5%光标读出＋0.05div设定值＋1nA 安全标准 UL1244，CSA231，HD401S1。
我们的优势：
品种齐全，货源充足，存库雄厚，服务快捷，维修能力强。
凡本公司销售的产品可享受半年保修期!
全市，成色新，售后服务好！
