LED 芯片外延片测试仪测试仪基本介绍
实现功能:
内置全数控直流可调恒流电源,快速测量光源的各项色度参数:相关色温、峰值波长、主波长、峰值半宽度、显色指数Ra、色纯度、色品坐标(CIE1931-XY坐标系和等色度空间UV坐标系)等参数,同时可进行IV特性测试、瞬态光衰测试(光度参数随时间变化曲线)和I—O测试(光度参数随电流变化曲线)等;可测试正向电压及反向漏电流。数据库报表,查询、打印功能。测试外延片的波长 光强 电压 漏电等。
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内置全数控直流可调恒流电源,快速测量光源的各项色度参数:相关色温、峰值波长、主波长、峰值半宽度、显色指数Ra、色纯度、色品坐标(CIE1931-XY坐标系和等色度空间UV坐标系)等参数,同时可进行IV特性测试、瞬态光衰测试(光度参数随时间变化曲线)和I—O测试(光度参数随电流变化曲线)等;可测试正向电压及反向漏电流。数据库报表,查询、打印功能。测试外延片的波长 光强 电压 漏电等。
产品名称 | 参考价 | 地区 | 公司名称 | 更新时间 | |
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硅材料综合测试仪/硅材料测试仪/硅材料检测仪 | 面议 | 北京市 | 北京亚欧德鹏科技有限公司 | 2018-05-27 | 在线询价 |
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