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HighFinesse波长计，线宽分析仪，激光光谱分析仪
HighFinesse Wavelength Meter
准确，灵敏，紧凑，具有广泛光谱范围，可用于脉冲和连续激光的高速测量
高达76 kHz的测量速度
<200 kHz分辨率
2 MHz精度
适用于192-11,000 nm的仪器
HighFinesse波长计是用于脉冲或连续激光源波长测量的仪器。它们为科学研究以及工业和医学应用提供了所需的的和相对精度。
WS8系列具有的精度，其精度高达2 MHz，测量分辨率为200 kHz或更低，这是通过采用*的几何结构的非移动Fizeau干涉仪实现的。所有HighFinesse波长计都依靠这一久经考验的概念。为了获得更高的稳定性和精度，可以补偿温度和压力的影响。 HighFinesse还提供相当快的市售波长表。点击这里查看更多信息。波长计的灵敏度可降低到nJ的大小，同时还有许多有用的选项可供选择，例如PID激光控制，它提供了一个有源反馈环路来控制激光波长。
| Absolute Accuracy [MHz] | Measurement Resolution [MHz] | Speed [Hz] | Wavelength Ranges [nm] | Calibration |
WS8-2 | 2 | 0.2 | 500 | 330-1180 | see SLR-series |
WS8-10 | 10 | 0.4 | 500 | 248-1750 | see SLR-series |
WS7-30 | 30 | 1 | 500 | 248-2250 | see SLR-series |
WS7-60 | 60 | 2 | 500 | 192-2250 | built-in |
WS6-200 | 200 | 4 | 500, IR: 1500 | 192-11000 | built-in |
WS6-600 | 600 | 20 | 950, IR: 1500 | 192-2250 | built-in |
WS5 | 3000 | 500 | 950, IR: 1500 | 192-11000 | built-in |
HighFinesse线宽分析仪
测量，分析和控制窄激光源的频率噪声和线形的多功能仪器
频率偏差时间轨迹的测量
频率噪声密度频谱
强度噪声频谱
激光线形光谱
HighFinesse线宽分析仪（LWA）是一款用途广泛，坚固耐用的紧凑型仪器，用于测量，分析和控制激光器的频率和强度噪声。这使它们成为实时精确表征激光的理想型设备。
通过将干涉测量工作原理与光学和电子组件相结合，可以实现出色的灵敏度。基于随时间变化的频率偏差的测量，可以计算出频率噪声密度谱，评估低至350 Hz的内部的（洛伦兹）线宽和有效（光学）线宽以及相对强度噪声（RIN）的光学线形。通过进一步分析，可以获取许多额外的量。LWA的无偏测量原理优于光学延迟线技术，因为由于技术固有的信息丢失，后者依赖于非平凡的评估需求。 LWA还允许使用PID控制来减少激光器的线宽。
LWA-1k产品系列是用于测量非常低线宽的仪器。 LWA-100k产品系列可在非常大的波长范围内进行精确的线宽测量。
LWA-1k Series | |||||
Wavelength range [nm] | Noise floor [Hz/√Hz] | Frequency Noise Bandwidth | Intrinsic linewidth range | Effective linewidth range | |
LWA-1k 780 | 760 - 1064 | 25 - 500 | 10 Hz - 10 MHz | < 8 kHz | < 10 kHz - 20 MHz |
LWA-1k 1550 | 1530 - 1565 | 5 - 100 | 10 Hz - 10 MHz | < 350 Hz | < 1 kHz - 20 MHz |
LWA-100k Series | |||||
| Wavelength range [nm] | Noise floor [Hz/√Hz] | Frequency Noise Bandwidth | Intrinsic linewidth range | Effective linewidth range |
LWA-100k NIR | 1064 - 1625 | 25 - 1000 | 25 Hz - 10 MHz | < 2 kHz | < 10 kHz - 20 MHz |
HighFinesse激光光谱分析仪
紧凑而稳固的光谱仪，具有可*自定义的范围和分辨率参数，能够以高测量速度测量脉冲和连续激光
高达500 Hz的测量速度
分辨力R = 20,000（31 pm @633 nm）
适用于192-11,000 nm的仪器
波长精度：6 GHz（8 pm @633 nm)
基于光栅的HighFinesse激光频谱分析仪是一款紧凑和通用的仪器，它具有非常精确的同时测量激光光源的中心波长和线宽的能力。
该产品系列涵盖了从192 nm到11,000 nm的范围。 基于光栅的技术可以分析较大线宽范围内的激光源。 LSA利用的是固定部件的原理，就像的HighFinesse WS系列波长计一样，具有经过时间考验的耐用性，并能够测量脉冲激光器和连续激光器。
LSA Series | |||||
| Absolute Accuracy [GHz] | Resolving Power [R = λ/Δλ] | Spectral Resolution [Δλ = λ/R] | Measurement Speed [Hz] | Wavelength Ranges [nm] |
LSA | 6 | 20000 | e.g. 31.65 pm @633 nm | 500 (Data Acquisition) | 192 - 2250 |
LSA IR-III Series | |||||
| Absolute Accuracy [nm] | Spectral Resolution [nm] | Measurement Speed [Hz] | Wavelength Ranges [μm] | Calibration |
LSA IR-III Type 2-3 | 1 | 15 | 100 | 1.4 - 3 | see IR-HeNe |
LSA IR-III Type 2-6 | 2 | 20 | 100 | 1.4 - 6 | see IR-HeNe |
LSA IR-III Type 2-11 | 5 | 30 | 100 | 1.4 - 11 | see IR-HeNe |
HighFinesse FAST 波长计系列
可实现高速测量的商用波长计，读出速率高达 76 kHz
分析快速波长动态
数据采集： 76 kHz
精度：200 MHz
该仪表的测量范围为 380 至 1650 nm
我们的 WF6 系列以测量速度见长，是可实现高速测量的商用波长计。在 380 至 1050 nm 波长范围内读出速率高达 24 kHz，在 980 至 1650 nm 波长范围内的读出速率甚至高达 76 kHz。这些波长计可以精确地表征快速扫频激光源的特性。
FAST 波长计可以从外部触发，便于与其他进程同步测量波长。作为一个特殊的软件功能，该波长计具有便于分析快速波长动态的示波器模式。
FAST Wavemeter series | Absolute Accuracy [nm] | Measurement Resolution [MHz] | Speed [Hz] | Wavelength Ranges [μm] | Calibration |
WF6-600 VIS | 600 | 20 | 24000 | 380-1050 | see SLR-series |
WF6-200 VIS | 200 | 4 | 24000 | 600-1050 | see SLR-series |
WF6-200 IR | 200 | 4 | 76000 | 980-1650 | see SLR-series |
