上照式X射线荧光镀层测厚仪
典型的应用领域有:
• 测量大规模生产的电镀部件;
• 测量超薄镀层,例如:装饰铬;
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层;
• 测量印刷线路板;
• 分析电镀溶液;
上照式X射线荧光镀层测厚仪通用规格
设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析;
特点:自上而下的测量结构,XYZ测量平台,Muti-FP多层算法;
元素范围:Na(11)-Fm(100) ;
分析层数:5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素;
X射线管:50 W(50kV,1mA)微聚焦钨钯射线管(靶材可选配);
探测器:Si-Pin探测器,(高灵敏度SDD探测器可选配);
准直器:φ0.1-φ0.5可选,多准可选;
视频系统:高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素,沿着初级X射线光束方向观察测量位置,对被测位置进行监控十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸),激光光点用于精确定位样品;
放大倍数:40x – 160x;
工作台:
设计:手动样品X/Y平台(可编程XY平台选配);
X/Y平台 移动范围:100 x 150 mm;
Z轴移动范围:150 mm;
样品仓尺寸:宽×深×高[mm]:520×480×170;
外形尺寸:宽×深×高[mm]:624×702×730;
重量:120KG;
电源:AC 220V±5V 50Hz;
额定功率:150W;