XRF镀层测厚仪FT230
FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间，因此推出了一个有着突破性的分析仪，其可以有效地 "设置 "自己，使得在过程中可以分析更多的零件。
自动化和创新软件是FT230分析仪的特点。智能识别模块，如Find My Part™（查找我的样品），意味着操作者只需装载样品，确认零件，FT230就会处理其余的事情。它将在您的部件上找到正确的测量位置--即使是在大型基材上--选择正确的分析程序并将结果发送到您的质量系统。减少了时间和人为的错误，使得你可以在更短的时间内完成更多的分析，使99%的检查在繁忙的生产环境中更加现实。
XRF镀层测厚仪FT230产品亮点：
FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。
自动聚焦减少样品装载时间
Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
屏幕大部分区域用来显示样品视图，提供了的可视度
自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
由于采用了新的用户界面，非专业人员也能直观、方便地使用。
功能强大，可同时测量四层镀层也可分析基质
经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求
FT230 台式 XRF 分析仪技术规格：
分析 | 详细 |
X射线管 | 钨（W）靶微焦点X射线管，自上向下照射式 50 kV，1000µA，50 W |
探测器 | 高分辨率, 大面积50 mm2 SDD |
初级滤波器 | 5个初级滤波器（2种铝膜、钛膜、钼膜、镍膜）+ 1个无滤波器位 |
准直器 | 4个准直器，有长圆形和圆形两种可供选择，尺寸范围为从0.01 x 0.25 mm到1 mm（0.5 x 10 mil到40 mil） |
元素范围 | 铝（13） -铀（92） |
层数 | 最多5层（4层加基底） |
可选元素 | 自由选择 |
大气补偿 | 自动温度和压力补偿 |
规范 | 能量色散X射线荧光测量镀层符合ASTM B568、DIN ISO 3497 |
分析 详细内
