十组通道在一台设备
十组同步输出与量测
ACWV / DCWV / IR 三合一安规测试
10 台主/从机控制
可程序电压输出及限制值
OSC 开短路侦测
Flashover 电气闪络侦测
5kVac & 6kVdc 耐压测试
1MΩ ~ 50GΩ 绝缘阻抗测试
标准 RS232 / Handler / GPIB 界面
大型 LCD 面板
面板锁定功能
CE 认证
-
相关产品
————
耐压测试仪19050系列/19070系列
5种规格型号可选
多通道同步耐压测试器Chroma 19020系列
多通道 ；最多100 个待测物进行测试；
局部放电测试器 Model 19501-K/19500
高压半导体元件与高绝缘材料测试
泄漏电流钳形表 MODEL 2434
20mA AC 最小分辨率0.1mA
泄漏电流钳形表 MODEL 2433R
40mA/400mA/400A.，分辨率达到0.01mA.
+了解更多产品型号 -
-
产品特点
————
同步耐压测试多颗待测物耐压测试碰见的课题是输出无法同步。在产线规划或自动化规划时，为达到设备极小化及空间利用，二个待测物之间的距离会很 小。以输出电压5kVac为例，当耐压测试器的输出不同步时，将会造成二个待测物之间产生高电压差(可达14kV peak-peak) 的放电，导致治具损坏及测试误判。Chroma 19020将输出电压同步化，相邻的二端高压之间将不会发生高压差而导致放电，不但可延长您产线设备的寿命，也减少测试误判的情形发生。
同步耐压测试多颗待测物耐压测试碰见的课题是输出无法同步。在产线规划或自动化规划时，为达到设备极小化及空间利用，二个待测物之间的距离会很 小。以输出电压5kVac为例，当耐压测试器的输出不同步时，将会造成二个待测物之间产生高电压差(可达14kV peak-peak) 的放电，导致治具损坏及测试误判。Chroma 19020将输出电压同步化，相邻的二端高压之间将不会发生高压差而导致放电，不但可延长您产线设备的寿命，也减少测试误判的情形发生。
电气闪络(Flashover)侦测19020 与Chroma其它安规测试系列仪器同样具有Flashover侦测功能。Flashover是绝缘材料内部或表面因高电界产生电气放电，待测物失去原有之绝缘特性，形成瞬时或非连续性放电，导致碳化导电通路产生或产品伤害。若只以漏电流判定则无法检出不良，须以测试电压或漏电流之变化率判定检出不良。因此Flashover侦测为高压测试*的检视项目之一。
电气闪络(Flashover)侦测19020 与Chroma其它安规测试系列仪器同样具有Flashover侦测功能。Flashover是绝缘材料内部或表面因高电界产生电气放电，待测物失去原有之绝缘特性，形成瞬时或非连续性放电，导致碳化导电通路产生或产品伤害。若只以漏电流判定则无法检出不良，须以测试电压或漏电流之变化率判定检出不良。因此Flashover侦测为高压测试*的检视项目之一。开短路侦测(OSC)OSC 功能为侦测测试过程中是否有开路(接触不良)或短路(待测物短路)的情形发生。测试过程中若发生开路现象，会导致不良品误判为良品 ; 若发生短路现象，可提早得知并筛选，减少对治具设备的伤害，节省测试成本。
一般耐压测试产品皆呈电容性(Cx)，在正常状态下可能在数十pF至数µF之间，一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量(图6)，一般低于10pF，而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象，因此可利用电容量变化之上下限值判定出短路问题。
开短路侦测(OSC)OSC 功能为侦测测试过程中是否有开路(接触不良)或短路(待测物短路)的情形发生。测试过程中若发生开路现象，会导致不良品误判为良品 ; 若发生短路现象，可提早得知并筛选，减少对治具设备的伤害，节省测试成本。
一般耐压测试产品皆呈电容性(Cx)，在正常状态下可能在数十pF至数µF之间，一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量(图6)，一般低于10pF，而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象，因此可利用电容量变化之上下限值判定出短路问题。
