分光光度计，是将白光用光谱元件（如棱镜和衍射光栅）分成单色光然后照射到样品上，通过检测透射光和反射光来测量材料的光学特性。应用领域包括材料、环境、制药和生物技术等学术和工业领域，根据其应用和要求精度的差异，已经开发了各种设备。
大的分类有两种设备，单光束和双光束设备。其中双光束型分光光度计由于具有高稳定性，深受广大用户的青睐。在双光束中，有搭载单个光谱元件的单单色器型设备，也有搭载两个光谱元件的双单色器型设备。
双单色器型设备杂散光较少，更适合要求高精度的光学薄膜的光谱特性测定。另外，根据可检测的波长范围分为紫外可见分光光度计（一般为190nm～900nm）、紫外可见近红外分光光度計（一般为190nm～3,300nm）。作为光学材料特性评价装置的UH4150AD+ 属于双光束、双单色器型紫外可见近红外分光光度计。
平行光束 分光光度计能够获得不同波长下的透过率和反射率光谱。反射测定分为适应入射角的正反射、扩散反射（漫反射）、及包括正反射和扩散反射的全反射，光学材料由于样品表面为镜面，具有适应入射角的光学功能，因此用到的正反射测定相对较多。 在测定固体样品的正反射时，入射角很重要。对于聚集光束，入射角会随焦距的变化而变化，从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。 对于平行光束，所有样品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度测定正反射。 另外，平行光束对于扩散性评价（雾度）、镜头透过率测定也是有效的。UH4150系列可实现无限接近平行的入射光，可实现高精度测量。
用于新相机和传感器的带通滤波器含有遮光性能低于 6 Abs(透射率0.0001%)至7Abs(透射率 0.00001%)的光学薄膜。 该产品通过改进低透射率测光时的信号处理，支持近红外区域的透射率为之前的1/100的7 Abs 的测光范围。使得即使在以前无法测量的近红外区域的微弱透射率条件下也能进行高精度测量。 配备新的高灵敏度冷却型InGaAs半导体检测器 本次的新产品安装了更灵敏的冷却型InGaAs*3半导体检测器。与之前的型号*4相比，在低透射率下实现有效的低噪声测量，从而能够获得更准确的测量数据。 多功能扫描提高处理能力 测定仅传输特定波长并切割不需要的波长范围的带通滤光片时，由于滤光片包含了高透过率和低透过率的波长范围，学者们一直都是按照低透过率的扫描速度进行全部波长范围的扫描，所以花费时间较长。 现在，通过搭载新的多扫描功能，每次的测定可以根据不同的波长范围分别设定扫描速度等测试条件。（如下图）为多扫描功能的设定画面和测试结果。按照透过率变化的5个波长范围进行了测定条件的设定。之前需要15分钟的检测通过多扫描功能只需要6分半就能完成，大大缩减了检测时间。
