二次离子质谱探针-仪表网

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北京英格海德分析技术有限公司是分析仪器制造商在中国的代理。多年来，我们在客户中建立了良好的声誉。我们的客户多数都是工作在新技术研究的前沿，如催化化学、氢能研究、等离子体物理、表面科学、大气环境监测、半导体材料和微纳米测量领域。我们与他们保持着密切的、积极的关系。我们在为客户提供仪器设备的同时，还为他们提供了及时周到的售后服务，让用户无后顾之忧，使其专心科研。

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产品简介在线询价

The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

二次离子质谱探针产品详情

EQS 是差式泵式二次离子质谱（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用的SIMS 探针，便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。

·光栅控制，增强深度分析能力
·所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输
·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器

·质量数范围： 300amu，500amu，1000amu

·检测器：离子计数探测器、正负离子探测器、10⁷cps

·质量过滤器： 3F四级杆

·杆直径： 9mm

·加热： 250℃

·离子源：电子轰击，可用于SNMS和RGA的单根灯丝

MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)

关键词：二次离子质谱过滤器

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