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| 产品介绍
PCT老化试验箱 饱和
APCT -S系列
- 突出特点：
PCT高压加速老化试验箱最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
合作案例
技术参数
| 型号 | APCT -S- | ||||||
| 25A | 30A | 40A | 50A | 25B | 30B | ||
| 控制器 | 微电脑饱和蒸汽温度+时间+压力显示独立控制器 控制精度：温度：0.1℃，压力：0.1kg/cm²（指针式） | ||||||
| 性能 | 温度范围 | 100℃～132℃ | 100℃～147℃ | ||||
| 湿度范围 | 99%RH饱和蒸汽 | ||||||
| 温湿波动度 | 温度：±0.5℃，湿度：99%RH | ||||||
| 压力范围 | 表压力+0～2.0kg/cm² | 表压力+0～3.5kg/cm² | |||||
| 加压时间 | 大约45分钟 | 大约55分钟 | |||||
| 循环方式 | 水蒸气自然对流循环 | ||||||
| 标称内容积 | 17L | 31L | 69L | 117L | 17L | 31L | |
| 内箱尺寸 （直径x深）cm | Φ25xD35 | Φ30xD45 | Φ40xD55 | Φ50xD60 | Φ25xD35 | Φ30xD45 | |
| 外箱尺寸 （宽x深x高）cm | 56 | 66 | 76 | 86 | 56 | 66 | |
| 105 | 125 | 135 | 145 | 105 | 125 | ||
| 65 | 105 | 115 | 135 | 65 | 105 | ||
| 材质 | 内箱 | SUS316#不锈钢 | |||||
| 外箱 | 高级钢板烤漆或不锈钢 | ||||||
| 保温 | 玻璃棉 | ||||||
| 密封 | 进口硅胶密封条 | ||||||
| 试样架 | 试样架隔板（标配2套），可定制专用试样架 | ||||||
| 安全保护 | 试验时全程检测超温超压保护； 阶段高温保护，阶段高压保护，箱门压力限制，水箱缺水报警断电，温度加热器保护，湿度加湿器保护； 第二阶段高温保护，第二阶段高压保护；第三阶段紧急泄压保护，手动泄压保护，自动泄压等。 | ||||||
注：以上技术参数为室温+20℃或循环水温+25℃、空载（无试样）时下所测得。
试验标准及方法
MS IEC 60068-2-66-2008 环境试验 第2-66部分-试验方法 试验Cx-稳态湿热(不饱和加压蒸汽)
