仪器简介：
XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
产品优势：
微小样品检测：最小测量面积0.008mm²
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm
自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量
*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器
X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置
上照式设计：实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量
可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量
多准直器自动切换
XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
产品优势：
微小样品检测：最小测量面积0.008mm²
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm
自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量
*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器
X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置
上照式设计：实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量
可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量
多准直器自动切换
