该设备为并行测试仪器,是以并行测试技术为支撑的新一代测试系统,目标是解决目前自动化测试系统中存在的测试效率低,投入成本大,测试程式可通兼容性差等问题。 并行测试技术属新一代测试技术范畴,是支撑AT5608D-E射频测试系统的新技术之一,根植于并行处理技术,在并行测试程式的控制下多个被测对象同时进行测试,相比传统顺序测试技术,它通过对系统资源的优化利用可以大幅度提高测试效率,提高测试资源利用率,大幅度降低测试成本。
主要技术参数规格
频率范围:500MHZ -- 6000MHZ
功率:+30DB(峰值)+ 23DB(均值)
射频端口:2(VSG + VSA)+8个(DUT)
支持技术:WIFI802.11a/b/g /n/ac
控制接口:1000M(以太网接口)
电源规格:100 - 250V AC500W
并行度:支持8个DUT同时测试
