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X荧光光谱仪采购
能量色散 X 荧光光谱仪简称 XRF，是一种物理的元素分析方法。近年来 XRF 主要作为一种快速检测手段在电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业发挥了很大的作用。XRF 具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势。在环保领域和食品领域，XRF 通过直接测试的方法，快速筛选出样品中的有害元素是否超出标准。XRF W7 在金属成
X荧光光谱仪采购
XRF W7 对测试电镀镀层应用广泛，可以测试铁镀锌，铁镀铬，铜镀镍金，铜镀锡，……另外，XRF 在现场分析和过程控制分析等方面的应用很广，例如废旧金属回收，土壤现场检测，在线物料检测等。XRF W7 产品应用测试是全开放式，在教学、科研实验领域能够带来大的应用价值。
X荧光光谱仪采购概述
1.工业电脑、控制系统和信号处理整机集成，干扰降低，仪器运行稳。
2.仪器采用更多符合实际样品的标准样品，相对分析的准确性更好。
3. 采用真实 500 万像素摄像头，样品观察清晰，定位准确；
4. 采用*元素二次强度提取算法，提高了微量元素的检出限；
5. 自定义的物料测试完成声音提醒功能，方便操作人员多任务工作；
6. 工作指示灯采用流水灯控制模块，操作人员更直观了解仪
仪器状态；
7. 软件集成多种模式的应用曲线。
8. 同一软件集成了成分分析和镀层厚度分析。
9. 核心配件独立模块设计，避免相互电磁干扰，提高了仪器的检出限，降低了仪器的故障率；
10. 多种语言软件版本。
2功能
2.1 集成数据统计功能，方便品质部门通过筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况；
2.2 提供开放式工作曲线标定功能，可为用户量身定做很好的有害物质检测方法和控制方案；
2.3 软件开机自检与故障判断功能，保证仪器始终在正常工作状态下运行以及出现异常时及时排除；
2.4 分析数据一键备份还原功能，避免因误操作或其它原因造成的损失，保障数据及系统文件安全；
2.5 根据用户需求自行定制测试报告输出格式(Excel 和列表等)，符合工厂多种统计要求；
2.6 具有核心硬件实时温度监控功能，通过热源分析设计与软件实时控制，将硬件的热量及时排出，减少探测器受温度变化而产生的影响；
2.7 支持大样品测试功能，并有流程指引设计。
荧光光谱测试仪 产品参数
元素分析范围 | 从硫 S-铀 U 之间的元素 重金属有害元素/卤素/八大重金属等 合金：铜材，铁合金，镍合金，锡合金，钛合金，贵金属 镀层：Ag/Sn/Au/Ni—Cu，Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe |
样品范围 | 固体、液体、粉末； |
低检出限 | 轻基体有害元素 2ppm 左右。 成分分析：0.01%--99.99% 镀层分析：0.0035um--40um |
测试时间 | 60s-200s(软件自动调整) |
X 射线源 | 型号：GT-50-Mo 生产厂家：东莞高天 X 射线光管（*） 窗口材料：金属铍 |
X 光管适用寿命 | 大于 20000 小时 |
探测器 | 型号100CR+ DP5+PX5 生产厂家：美国 Amptek 电制冷 Si-Pin 探测器 分辨率 145ev±5 1mil 铍窗厚度（X123 由 100CR+DP5+PX5） |
高压电源 | X3513 咸阳威思曼生产 0-50kev，0-2mA 大 50W |
高压保护措施 | 过压自保护，自恢复 6 / 12 |
高清晰摄像定位系统 | 清晰精准 |
集成工业计算机 | 2G 内存，1.6G 双核 CPU 操作系统：Windows7 无需外接电脑 |
准直器 | 光斑φ1mm、3mm、4mm(软件自动选择) |
工作环境温度 | 温度:15-30℃ |
工作环境相对湿度 | ≤85% （不结露 No dew） |
输入电源 | AC 220V±15%，50Hz |
额定功率 | 128W |
仪器尺寸 | 650mm*450mm*350mm |
样品腔尺寸 | 280mm*280mm*200mm |
重量 | 约 32Kg |
辐射防护标准 | 符合 GB18871-2002 GBZ115-2002 标准 |
