UVISEL Plus椭圆偏振光谱仪
UVISEL Plus光谱范围从FUV到NIR：190-2100nmUVISEL Plus椭圆偏振光谱仪为*薄膜、表面和界面表征提供了模块化和性能的优化组合。
UVISEL Plus作为一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型，它采用了PEM 相位调制技术，与机械旋转部件技术相比， 能提供更好的稳定性和信噪比。光谱范围从190nm到2100nm。
UVISEL Plus集成了全新的FastAcqTM快速采集技术，可在3分钟以内实现高分辨的样品测试（190-2100 nm），校准仅需几分钟。基于全新的电子设备，数据处理和高速单色仪，FastAcq技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集。FastAcq专门为薄膜表征设计，双调制技术可以确保您获得优异的测试结果。
相位调制技术的特点为高频调制 50 kHz，信号采集过程无移动部件：
测试全范围的椭偏角，Ψ (0-90)，Δ (0-360)
从FUV到NIR具有优良的信噪比
数据采集速度快，高达50毫秒/点，是动力学研究和在线测量的理想选择相比于采用 旋转元件调制的传统椭圆偏振光谱仪，UVISEL Plus的相位调制模式在表征薄膜方面具有更高的灵敏度和精度。它不仅可以探测到其他椭偏仪无法观测到的极薄膜或界面，还可以表征50µm的厚膜。
在测试有背反射的透明样品时，测试简单、准确，无需刮花背面。
UVISEL Plus还设计有多种附件及可选功能，便于客户根据应用需求及预算选择合适的配置。比如，微光斑用于图案样品、自动变角器、自动样品台等。
UVISEL Plus采用模块化设计，可灵活扩展。即可用于离线台式测量，也可以耦合于镀膜设备做在线监控。
UVISEL Plus可根据习惯选择操作界面，一个是 DeltaPsi2 具有建模和拟合处理功能；另一个是 Auto-Soft 用户导向的全自动样品测试界面 ，工作流程直观，易于非专业人士操作。
UVISEL Plus搭载FastAcq技术是材料研究和加工、平板显示、微电子和光伏领域中优选通用光谱型椭偏仪。
UVISEL Plus是材料科学研究的理想工具。
产品优势
●高精度和高灵敏度
●模块化设计
●宽光谱范围： 190-2100 nm
●集数据测量、建模和自动化操作为一体的软件包
获得的信息
●膜层厚度，从1Å到50 µm
●表面和界面粗糙度
●光学常数 (n,k) ，适用于各向同/异性和渐变层
●光学特性如：吸收系数α, 光学带隙Eg
●材料性能：合金成分、孔隙率、结晶度及形貌等
●穆勒矩阵
●退偏
UVISEL 规格
●光谱范围：标配190-885nm，可扩展至近红外2100nm
●检测系统：高分辨率光谱仪配合高灵敏探测器
手动配置
●光斑尺寸：0.05 – 0.1 – 1 mm（针孔）
●样品台：直径150mm，手动调节高度（20mm）和倾角
●卡位量角器：手动调节角度，从55°到90°，步径5°
自动配置
●光斑尺寸：0.05 - 0.1 - 1 mm或0.08 - 0.12 - 0.25 - 1.2 mm（针孔）
●自动样品平台：200 x 200mm或300 x 300mm，手动调节高度（4mm）和倾角；●XYZ样品台，theta平台
●自动量角器：自动调节角度，从45°到90°，步径0.01°
集成型量角器
●手动调节入射角度，从35°到90°，步径5°
●样品台：直径150mm，手动调节高度（20mm）
●自动准直系统（可选）
●尺寸: 25cm*21cm*35cm
在线配置
●机械适配器：CF35或KF40法兰
●易于在在线和离线配置间更改
选配
●附件：冷热台、液体样品池、电化学反应池、反射模块（测试0°入射的反射率）等
●可视化：CCD摄像机
性能
●准确度：Ψ= 45°±0.01°和Δ=0°±0.01°，空气对射1.5 - 5.3 eV
●重复性：NIST 1000Å SiO2/Si (190-2100 nm)，d±0.1%，n(632.8nm)±0.0001
