HAST-高压加速寿命老化试验箱之HAST试验的应用
HAST-高压加速寿命老化试验箱的PCT试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验，主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度及压力环境下测试，测试代测品耐高湿能力，针对印刷线路板，用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等试验目的，如果待测品是半导体的话，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
压力蒸煮锅试验（PCT）结构：试验箱由一个压力容器组成，压力容器包括一个能产生（润湿）环境的水加热器，待测品经过PCT试验出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透造成的。
澡盆曲线：澡盆曲线，又用称为浴缸曲线、微笑曲线，主要是显示产品的于不同时期的失效率，主要包含早夭期（早期失效期）、正常期（随机失效期）、损耗期（退化失效期），以环境试验的可靠度试验箱来说得话，可以分为筛选试验、加速寿命试验（耐久性试验）及失效率试验等。进行可靠性试验时“试验设计”、“试验执行”及“试验分析”应作为一个整体来综合考
1. 产品名称型号 PTC-500
2. 试样限制 本试验设备禁止：
易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存。
腐蚀性物质试样的试验或储存。
强电磁发射源试样的试验或储存。
名 称：高加速寿命试验装置（HAST）
用 途：EVA胶、TPT膜、光伏玻璃等加速老化筛选试验、光伏组件可靠性和寿命高加速试验
特 点：1、的无结露设计。2、双腔体设计。3、抽屉式滑动托盘设计。4、饱和试验（STD）和不饱和试验（HUM）两种试验模式。5、电子自动门锁紧结构。6、多种排气方式。7、可依据客户需要，选配不同试验夹具
技术特性：
| 型号 | PC-242HSR2 | PC-422R8 | PC-422R8D |
| 内腔体尺寸 | Φ240 ×D410 mm | Φ420 ×D657 mm | Φ420 ×D657 mm ×2个腔体 |
| 温度范围 | 105.0 to 144.4deg C | 105.0 to 150.0deg C | 105.0 to 150.0deg C |
| 湿度范围 | 75 to RH | 65 to RH | 65 to RH |
| 压力范围 | 0.019 to 0.208MPa | 0.019 to 0.208MPa | 0.019 to 0.208MPa |
| 连续试验时间 | 200Hours | 500Hours | 500Hours |
