GP/TH系列高低温试验箱适用于航空航天、信息电子、仪器仪表、材料电工、电子产品、高等院校、科研单位等行业和领域的各种电子元气件在高低温或湿热环境下检验其各项性能指标,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。
参照标准:
-GBT10586-2006湿热试验箱技术条件
-GB10592-2008高低温试验箱技术条件(温度交变)
-GJB150.3A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验
-GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验
-GB/T2423.1-2016电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)
-GB/T2423.2-2016电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)
-GB/T2423.3-2016电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验(IEC60068-2-78:2001)
-GB/T2423.4-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Db:交变湿热12h+12h循环(IEC60068-2-30:2005)
-GB/T2423.9-2006电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cb:设备用恒定湿热(IEC60068-2-56)
-GB/T2423.22-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化(IEC60068-2-14)等