概述
Innov-X Systems 新推出的移动式X系列矿石分析仪，功能强大，便于携带，是同类分析仪的基准。X系列仪器采用10W，50Kv的射线管，超大探测面的探测器，多种分析模式，6个光束滤波器，是目前市场上功能强大的移动式分析仪。这款仪器的硬件配置特别适合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探测元素如，Y，Ba,Nb,Ta & Zr的分析.同时也很适合测Mg, Al, Si P, S, K & Ca等轻元素。
Innov-X X系列矿石分析仪系统规格
尺寸 | 外形尺寸：328x280x380mm； |
展开尺寸：328x690x460mm； | |
样品室尺寸：287x145x114mm； | |
重量 | 26lbs；11Kg |
环境要求 | 环境湿度0~95%；环境工作温度-20℃~50℃；亮黄 |
激发源 | 0~50kV多段可选择的电压；200uA |
探测器 | 有SI-PIN；SDD；等不同的探测器可选择 |
冷却系统 | 采用了Peltier恒温冷却系统，探测器在-35℃下工作，保证仪器 |
滤波器 | 6个滤波片可自动切换 |
电压、电流 | 电压15~40kv,电流可达200uA |
电力要求 | 10~240VAC；50~60Hz, 最小电力100W |
主机供电系统 | 10~240VAC；50~60Hz交流电； |
锂电池组、适配器，适配器DC输出16.4V 3A（可选项) | |
显示器 | 整机一体化设计，工业级高分辨率TFT 触摸显示彩屏10英寸，分辨率800*600 |
显示器固定方式 | 一体机设计,整机连体构造，可防尘,防雾,防水,极大的降低了故障率 |
数据显示 | 百分比%和ppm显示元素含量，动态显示，元素可排序 |
数据存储 | 内存504M，硬盘18.6G |
处理器CPU | Intel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz，RAM504M |
操作系统 | Microsoft Windows XP ,SP2 |
、Innov-X X系列矿石分析仪用途
● 地球化学勘探
▼广泛应用于普查、详查的各过程，
迅速采集矿区的地球化学数据与
调查
▼现场快速追踪矿化异常，有效地
寻找"热点"地带，圈定矿体边界
对矿山仓库、矿区现场日常工作
的有效管控
● 动力设备、管道、 生产线维护
▼在高峰期对机器的预防性养护， 防止意外故障
▼分析设备润滑油等油品中磨损的微量金属
● 环境监控
▼更快、更经济地监控矿区、 工厂周围的环境、尾矿、粉尘、土
壤等污染影响，实现可持续性发展
▼原土地、大气、水资源的污染调查、测量与控制
▼作业现场动态管控，有害元素检测，有害废料筛选
● 矿石品位、过程控制
▼实时进行矿石等级管控
▼对精矿、尾矿、矿渣的准确快速分析
▼在运转过程中进行现场化学测定，为研磨、加工和冶炼等过程提供帮助
▼为矿物贸易、加工及再利用提供价值判定依据
Innov-X X系列矿石分析仪模式与元素
可分析从镁矿（Mg）到铀矿（U）之间的83种金属矿、非金属矿、贵重金属矿、稀有金属矿等自然矿，分析范围从PPM到99%
模式类别 | 分析方法 | 分析模式 | 元素 |
土壤模式 | 基本参数法 | Ppm含量Soil1 | As, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Th, U...可增加的元素Rh、Pd... |
Ppm含量Soil2 | Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Hg, Se, Rb, Pb, Bi...可增加的元素Au、Pt... | ||
Ppm含量Soil3 | P、S、Cl、K、Ca、Ti、Cr 、Mn... | ||
矿石模式 | 经验系数法 | 百分比含量Mining | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Mo,Ag, Cd, Sn, Sb, W, Pb, Bi...
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百分比含量 Two Beam Mining | Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Pb, Bi... |
Innov-X X系列矿石分析仪应用界面
Innov-X X系列矿石分析仪技术性能
■采用10W，50Kv的射线管，具有实验室的精度，是目前世面上功能强大的移动式分析仪
■采用多光束技术，使重金属元素、过渡元素、轻质元素的分析效果达到 只需直接接触待测物表面，即可现场确定矿石等级、元素鉴定
■可以检测的样品如矿石、岩石、岩芯、矿渣、碎片；土壤、 泥土、泥浆、粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层；废水、废油、等等的固体、液体物质
■可添加并很好地测试贵重金属元素Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd稀有元素La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm等的现场移动式分析仪
■工业级触摸式高清高分辨率彩色TFT触摸屏、电脑、仪器一体化密封设计，有很好的三防性能，可承受恶劣的工作环境。密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的室外环境中长时间稳定工作
■ 真正实现了现场快速、准确的检测，直接显示元素的ppm含量与百分比含量
■ 仪器内置风扇，散热性好，根本性解决XRF仪器存在的散热问题
■ 采用Windows XP SP2操作系统，可外接USB、鼠标、键盘、打印、INTERNET等通用外设，具有良好的兼容性
■超大规模的存储系统，内存504M，硬盘18.6G可存储数据高达86万组数据及图谱
■具有自动校准、诊断、故障报告功能，可通过INTERNET远程诊断机器故障与软件升级
Innov-X X系列矿石分析仪LOD
测试样品为匀质SiO ,无干扰元素，测试时间为120秒，LOD值单位为PPM
多段电压、单段电压与不同元素的LOD的关系表明多段电压可以对不同的元素有很好的LOD下图为X-5000对SiO2 的120秒检测结果
Innov-X X系列矿石分析仪
▼ 模式：Soil(3 Beam)、Mining、 2 Beam Mining
▼ 硅漂移SDD探测器（Si drift）
▼ 10W X射线管
▼ 能测试Mg、Al、Si、P、S...
