KOSAKA SE800 系列表面粗糙度测定机，
KOSAKA SE800 系列表面粗糙度测定机是一款多功能的全自动测量仪器。可进行高精度、高水平分析和多功能粗糙度测量。在机械加工、精密模具、电子组件等行业广泛应用，无论是工厂车间或实验室研究都能自如操控
KOSAKA SE800 系列表面粗糙度测定机特点：* KOSAKA 表面粗糙度测定机 SE800 系列产品可进行高精度、高水平分析。可扩充多功能 3D 表面粗糙度分析、微细轮廓测量、以及原有的表面粗糙度测量。
* 自动调水平工作台、调整台等外部设备的应用。有效地增强了该产品的操控性能，同时也实现了自动测量。
* 为了保证高精度测量，在 X 轴内置了高清晰度的光栅尺，保证了 SE800 系列产品具有高度的可靠性。特别是 X 轴的分辨率就达到了很高的水平 0.01um。
* 接触式传感器可选配各种型号的高精度触针。
* 配有多种功能，如真直度补偿功能，确保了 X 轴的线性精度；圆弧补偿功能等。
* 安装了专业资料分析软件，可对工厂车间和实验室中的资料进行统一格式管理。
* 触针和传感器（接触式与非接触式）都可以轻松更换，开机状态下即可更换。
* 可选触针和导轨适应各种粗糙度测量的需求，如深孔测量、细孔测量、凹槽测量等。
* 在各种型号中，还提供了易于操作的大面积工作台，使操作更方便简易。
KOSAKA SE800 系列表面粗糙度测定机主要技术参数：
1.接触式表面粗糙度传感器
固定探针式差动变压器：PU-DJ2S-60 （另可选可差拔更换探针型传感器 PU-C(S)-60） l 测定力：0.75mN
测量范围（传感器范围）：600um（实际可达 1200um） l 指示精度：±3%
探针：2um, 60° 钻石头
导头/鼻架：曲率半径 40mm
2. X 轴传送装置 DR-100X83
左右移动范围：100mm (软件上可设定极限范围) l 指示精度：±（1+0.02L）um 以下 l 分辨率：0.01um
直线度精度：0.2um/100mm
测量速度：0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0, 3.0mm/s
驱动速度：0.5、30mm/s，宏功能时可设定 80mm/s
驱动方式：电动（可透过遥控器按钮控制、软件操作）、另有手动微调旋扭 l 外型尺寸：W385 x D130 x H140mm, 约 9kg
3. 电动立柱、载台（花岗岩）
移动范围：300mm（接触式粗糙度传感器使用时）
上下极限：可于软件设定上下做动极限
移动速度 0.05~50mm/s
10, 50mm/s (遥控器操作上升时)
5, 30mm/s (遥控器操作下降时)
驱动方式：电动，另有手动微调旋扭
床台尺寸：W650 x D335
总高度：H773mm l 立柱与载台重量：约 75kg
*大积载重量：70kg
材质为花岗岩，并具备四个脚垫
4. 放大器
尺寸及重量：W440 x D400 x H160mm, 重量 9kg5. Y 轴电动载物台（选配）：RAF-22D
载台尺寸：150*150mm
倾斜调整范围：1° (X,Y)
Y 轴移动量：50mm
直线度精度：1um/50mm 以下
*小移动范围：1um
*大承载重量：5kg
尺寸重量：W312 x D150 x H70mm，约 8kg
6. 2D 粗糙度测量功能
测量倍率：纵 Z：50~500,000 倍、横 X：1~5,000 倍
测量范围：纵 Z：依照所选传感器实际范围而定、横 X：100mm
测量速度：0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0, 3.0mm/s
分辨率：16bit （约 0.1nm）
解析功能：（软件 SGA-31）
测量参数：
JIS B0601-1982：Ra,Rmax,Rz
JIS B0601-1994：Ra,Ry,Rz,S,Sm,tp
JIS B0610-1987：Wca,Wcm,Wem,Wea
JIS B0601-2013：Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,Pa,Pq,Psk,Pku,Ppc,PSm,PΔq,
（ISO B0601-2001）：Pmr(c),Pδc,Pmr,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,
（ISO 4287-1997）：Rq,Rsk,Rku,Rpc,RSm,RΔq,Rmr(c), Rδc,Rmr,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,Wa,Wq,Wsk,Wku,WSm,WΔq,
Wmr(c),Wδc,Wmr,WPc
JIS B0631-2000:AR, R, Rx, Rke, Rpke, Rvke
JIS B0671-1, -2, -3, -2002: Rk,Rpk,Rvk, Mr1,Mr2, Rpq,Rvq,Rmq
（ISO 13565-1，-2,-3,-1996）
ISO 12085, 1996: AR,R,Rx,Rke,Rpke,Rvke
ASME B46.1・1-1995:Ra,Rq,Rt,Rp,Rv,Sm,Pc,Rsk,Rku,tp, HSC,Htp,Δq,Δa, Rmax,Rz,Rpm,λa,λq,Wt, ,Wa,Wq,Wp,Wv,Wmr（c）
滤波值 Cut-off：
粗糙度
λc : 0.008, 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8 mm, R+W
λs : Selectable based on the standard.
波纹度
λc (fh) : 0.08, 0.25, 0.8, 2.5 mm ~λf (fl) : 0.8, 2.5, 8, 25 mm
λc (fh) : 0.08, 0.25, 0.8, 2.5 mm
λf (fl) : 0.8, 2.5, 8, 25 mm
滤波器：高斯、2RC、特殊高斯、接触点
测量长度：
评价长度法：λc x1,2,3,4,5,6,7,8,9,10
标准长度法：0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80mm，任意长度(>0.2mm)
水平方法：全域*小二乘法、前半/后半*小二乘法、前后两点法、正 R补正、二点法、样板曲线补正法
记录项目：测量参数值、平均值、阶高值、间隔分析结果
Profile：原始图型、粗糙度图型、滤波后波纹度图型、滤波中心线波纹曲线、特殊粗糙度曲线
Graph：振幅曲线、相对负荷曲线、FFT graph
其他：测量条件、日期、输入值（各种内容）、图型数据
常用辅助机能：复数段差分析、pitch 测量等…
