常州同惠TH512半导体C-V特性分析仪概述：
TH510系列半导体C-V特性分析仪是同惠电子针对半导体材料及器件生产与研发的分析仪器。
TH510系列半导体C-V特性分析仪**性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术，适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。
TH510系列半导体C-V特性分析仪测试频率为10kHz-2MHz， VGS电压可达±40V，足以满足二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体件CV特性测试分析。得益于10.1英寸、分辨率达1280*800的电容式触摸屏，TH510系列半导体器件C-V特性分析仪可将四个参数同屏显示、所有设置、监视、分选参数、状态等可以在同一屏显示，避免了频繁的切换的操作。
常州同惠TH512半导体C-V特性分析仪功能特点：
A.单点测试，10.1英寸大屏，四种寄生参数同屏显示，让细节一览无遗
10.1英寸触摸屏、1280*800分辨率，Linux系统、中英文操作界面，支持键盘、鼠标、LAN接口，带来了无以伦比的操作便捷性。
MOSFET*重要的四个寄生参数：Ciss、Coss、Crss、Rg在同一个界面直接显示测量结果，并将四个参数测试等效电路图同时显示，一目了然。
多至6个通道测量参数可快速调用，分选结果在同一界面直接显示。
B.列表测试，灵活组合
TH510系列半导体C-V特性分析仪支持*多6个通道、4个测量参数的测试及分析，列表扫描模式支持不同通道、不同参数、不同测量条件任意组合，并可设置极限范围，并显示测量结果 。
C.曲线扫描功能（选件）
TH510系列半导体C-V特性分析仪支持C-V特性曲线分析，可以对数、线性两种方式实现曲线扫描，可同时显示多条曲线：同一参数、不同Vg的多条曲线；同一Vg、不同参数多条曲线 。
D.简单快捷设置
E.10档分选及可编程HANDLER接口
仪器提供了10档分选，为客户产品质量分级提供了可能，分选结果直接输出至HANDLER接口。
在与自动化设备连接时，怎么配置HANDLER接口输出，一直是自动化客户的难题，TH510系列将HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式等可视化，让自动化连接更简单。
F.支持定制化，智能固件升级方式
同惠仪器对于客户而言是开放的，仪器所有接口、指令集均为开放设计，客户可自行编程集成或进行功能定制，定制功能若无硬件更改，可直接通过固件升级方式更新。
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等，都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新，而无需返厂进行。
固件升级非常智能，可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行，智能搜索仪器内存、外接优盘甚至是局域网内升级包，并自动进行升级
G.半导体元件寄生电容知识
在高频电路中，半导体器件的寄生电容往往会影响半导体的动态特性，所以在设计半导体元件时需要考虑下列因数
在高频电路设计中往往需要考虑二极管结电容带来的影响；MOS管的寄生电容会影响管子的动作时间、驱动能力和开关损耗等多方面特性；寄生电容的电压依赖性在电路设计中也是至关重要，以MOSFET为例。
H.标配附件
| 产品型号 | TH511 | TH512 | TH513 | |
| 通道数 | 2（可选配4/6通道） | 2 | ||
| 显示 | 显示器 | 10.1英寸(对角线)电容触摸屏 | ||
| 比例 | 16:9 | |||
| 分辨率 | 1280×RGB×800 | |||
| 测量参数 | CISS、COSS、CRSS、Rg，四参数任意选择 | |||
| 测试频率 | 范围 | 10kHz-2MHz | ||
| 精度 | 0.01% | |||
| 分辨率 | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | |||
| 100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz | ||||
| 1Hz 100.000kHz-999.999kHz | ||||
| 10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz | ||||
| 测试电平 | 电压范围 | 5mVrms-2Vrms | ||
| 准确度 | ±（10%×设定值+2mV） | |||
| 分辨率 | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | |||
| 10mVrms 1Vrms-2Vrms | ||||
| VGS电压 | 范围 | 0 - ±40V | ||
| 准确度 | 1%×设定电压+8mV | |||
| 分辨率 | 1mV 0V - ±10V | |||
| 10mV ±10V -±40V | ||||
| VDS电压 | 范围 | 0 - 200V | 0 - 1500V | 0 - 3000V |
| 准确度 | 1%×设定电压+100mV | |||
| 输出阻抗 | 100Ω，±2%@1kHz | |||
| 数学 运算 | 与标称值的**偏差Δ，与标称值的百分比偏差Δ% | |||
| 校准功能 | 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD | |||
| 测量平均 | 1-255次 | |||
| AD转换时间（ms/次） | 快速+：0.56ms(＞5kHz) 快速：3.3ms 中速：90ms 慢速：220ms | |||
| *高准确度 | 0.1%（具体参考说明书） | |||
| CISS、COSS、CRSS | 0.00001pF - 9.99999F | |||
| Rg | 0.001mΩ - 99.9999MΩ | |||
| Δ% | ±（0.000% - 999.9%） | |||
| 多功能参数列表扫描 | 点数 | 20点，每个点可设置平均数，每个点可单独分选 | ||
| 参数 | 测试频率、Vg、Vd、通道 | |||
| 触发模式 | 顺序SEQ：当一次触发后，在所有扫描点测量，/EOM/INDEX只输出一次 | |||
| 步进STEP：每次触发执行一个扫描点测量，每点均输出/EOM/INDEX，但列表扫描比较器结果只在*后的/EOM才输出 | ||||
| 图形扫描 | 扫描点数 | 任意点可选，*多1001点 | |
| 结果显示 | 同一参数、不同Vg的多条曲线；同一Vg、不同参数多条曲线 | ||
| 显示范围 | 实时自动、锁定 | ||
| 坐标标尺 | 对数、线性 | ||
| 扫描参数 | Vg、Vd | ||
| 触发方式 | 单次 | 手动触发一次，从起点到终点一次扫描完成，下个触发信号启动新一次扫描 | |
| 连续 | 从起点到终点无限次循环扫描 | ||
| 结果保存 | 图形、文件 | ||
| 比较器 | Bin分档 | 10Bin、PASS、FAIL | |
| Bin偏差设置 | 偏差值、百分偏差值、关 | ||
| Bin模式 | 容差 | ||
| Bin计数 | 0-99999 | ||
| 档判别 | 每档*多可设置四个参数极限范围，四个测试参数结果设档范围内显示对应档号，超出设定*大档号范围则显示FAIL，未设置上下限的测试参数自动忽略档判别 | ||
| PASS/FAIL指示 | 满足Bin1-10,前面板PASS灯亮，否则FAIL灯量 | ||
| 存储调用 | 内部 | 约100M非易失存储器测试设定文件 | |
| 外置USB | 测试设定文件、截屏图形、记录文件 | ||
| 键盘锁定 | 可锁定前面板按键，其他功能待扩充 | ||
| 接口 | USB HOST | 2个USB HOST接口，可同时接鼠标、键盘，U盘同时只能使用一个 | |
| USB DEVICE | 通用串行总线插座，小型B类（4个接触位置）；与USB TMC-USB488和USB2.0相符合，阴接头用于连接外部控制器。 | ||
| LAN | 10/100M以太网，8引脚，两种速度选择 | ||
| HANDLER | 用于Bin分档信号输出 | ||
| RS232C | 标准9针，交叉 | ||
| RS485 | 可以接收改制或外接RS232转RS485模块 | ||
| 开机预热时间 | 60分钟 | ||
| 输入电压 | 100-120VAC/198-242VAC可选择，47-63Hz | ||
| 功耗 | 不小于130VA | ||
| 尺寸（WxHxD）mm | 430x177x405 | ||
| 重量 | 16kg | ||
常州同惠TH512半导体C-V特性分析仪应用：
■ 半导体元件/功率元件
二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光
电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析
■ 半导体材料
晶圆、C-V特性分析
■ 液晶材料
弹性常数分析
