X射线荧光测厚仪-仪表网

公司介绍主营产品

東菱科技有限公司成立於1993年，一直以來我們都專精於可靠度環境測試設備的技術，不斷精益求精，創造符合國際規範要求的可靠度應用價值，並致力於技術研發與品質改善，客戶產業遍及於電子、半導體、光電、通訊、航天、機械、實驗室、汽車…等科技產業，從產品研發到售後服務，每一個環節之間，都以客戶的觀點與需求作為思考的出發點，迎得客戶的信賴與滿意。近年來東淩公司不斷吸收歐、美、日先進國家的技術，並進行公司內部各項改革，包括制度合理化、生產自動化與管理電腦化，以期提供客戶Z精良的品質及完善的售後服務，創造企業的永續經營。公司概要：1993 年 6 月，東菱科技有限公司成立於臺北縣中和市。 1993 年 9 月，*台自製恒溫恒濕機面世。1995 年 8 月，公司擴大生產範圍，廠房面積增至15001997 年 3 月，成立鈑金部，新一代外觀正式推出市場。1999 年 5 月，成立大陸辦事處，選址上海，成立東逹試驗設備有限公司2001 年 2 月，公司為更好的服務華東地區客戶, 成立武漢辦事處。2002 年 4 月，設立廣東服務中心，專負責華南地區的設備銷售及售後服務。2003 年 5 月，設廠於上海松江區。2003年 10 月，公司全面導入ISO9001：2000認證及5S管理機制。2005 年8 月，成立天津辦事處，專門負責華北地區的設備銷售及售後服務。2005 年 10 月，公司擴大生産規模，遷廠*海嘉定區，面積增至18000㎡。

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●本公司可根据客户使用要求制作各类非标准产品。 ●本公司有保留更改规格之权力。

X射线荧光测厚仪产品详情

产品说明

设备图片

设备介绍

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定zui多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点zui小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：

●标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●程控样品台：XYZ轴自动控制。

●超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：

●全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品zui大高度为150mm，XY轴程控移动范围为●300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

●Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品zui大高度为270mm。

●全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品zui大高度为356mm。

●可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

技术规格

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W4-50kV，0-1.0mA－标准 75W4-50kV，0-1.5mA－任选 X射线管功率可编程控制
	装备有安全防射线光闸
滤光片程控交换系统	根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
	位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
准直器程控交换系统	zui多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
	多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm 使用0.025 x 0.05 mm准直器
	在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm 使用0.3mm准直器
X射线探测系统	封气正比计数器
	装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
样品室	CMI900	CMI950
－样品室结构	开槽式样品室	开闭式样品室
－zui大样品台尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度	43.18mm	XYZ程控时，150mm
－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统	高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。 50倍和100倍观察系统任选。
	激光辅助光自动对焦功能
	可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置	IBM计算机：2.8G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，15寸液晶，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件	操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围	可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能	无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
	样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体镀液中的元素含量
	可检测元素范围：Ti22 – U92
	可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
	组成分析时，可同时测定15种元素
	多达4个样品的光谱同时显示和比较
	元素光谱定性分析
－调整和校正功能	系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移
	谱峰计数时，峰漂移自动校正功能
	谱峰死时间自动校正功能
	谱峰脉冲堆积自动剔除功能
	标准样品和实测样品间，密度校正功能
	谱峰重叠剥离和峰形拟合计算
－测量自动化功能要求XY程控机构	鼠标激活测量模式：“PointShoot”
	多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
	测量位置预览功能
	激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能	设定测量点
	One or Two Datumn reference Points on each file
	测量位置预览图表显示

－统计计算功能	平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
	数据分组、X-bar/R图表、直方图
	数据库存储功能
－系统安全监测功能	Z轴保护传感器
	样品室门开闭传感器
	操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师
－任选软件	统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
	液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
	材料鉴别和分类检测
	材料和合金元素分析
	贵金属检测，如Au karat评价

关键词：测厚仪测量仪 CAD 线路板标准

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