PCB荧光X射线膜厚检测装置ALEX

PCB荧光X射线膜厚检测装置ALEX

PCB荧光X射线膜厚检测装置ALEX

荧光X射线元素分析仪WFD-70，X射线荧光元素分析仪FD-04，X射线荧光元素分析仪FD-03，X射线荧光元素分析仪FD-02，荧光X射线膜厚检测装置H，HD，L，PCB

产品介绍

荧光X射线元素分析仪WFD-70

轻元素的高灵敏度测量

特征

配备新开发的不需要液氮（SDD）的检测器，无需液氮。

配备单色器法激发源

双曲面单色器法配备激发源，可以高灵敏度测量轻元素。

可以测量从 9F 到 92U 的各种测量元件。

X射线荧光元素分析仪FD-04

搭载全新混合光学系统

特征

可选择的照射区域

污染物分析 (1 mmφ) 到大孔径 (20 mmφ) 可以选择，展示了高精度质量控制测量的能力。

自动进样器还有两种可互换类型：使用杂交小直径样品杯时可连续测量 12 次，使用大直径 (50mmφ) 标准物质时可连续测量 6 次。

X射线荧光元素分析仪FD-03

从轻元素 (13Al) 到重元素 (92U) 的高灵敏度测量，操作简单

特征

配备新开发的不需要液氮（SDD）的检测器，无需液氮。

通过安装用于从轻元素 (13Al) 到重元素 (92U) 的高灵敏度测量的

新光学系统，灵敏度得到了极大提高。同时安装了新开发的便于测量的软件。

节省空间和节能设计

尽管有一个大样品室，但该设备的主体足够小，可以容纳在 40 厘米见方的范围内。功耗小于100W，生态设计。

X射线荧光元素分析仪FD-02

设计简单，通用机器，但用途广泛

特征

配备新开发的不需要液氮（SDD）的检测器，无需液氮。

用于高灵敏度微区测量的新型光学系统

大大增加了准直器的强度。

节省空间和节能设计

尽管有一个大样品室，但该设备的主体足够小，可以容纳在 35 厘米见方的范围内。功耗小于100W，生态设计。

荧光X射线膜厚检测装置

特征

高测量精度和再现性

自动程序控制的高性能 X 射线管和高灵敏度检测器大大减少了测量薄膜厚度的变化。

追求便利性

专用软件和附带的 PC独立于主机。考虑到紧急情况下备份和数据组织的可操作性，是一款追求生产现场便利性的测量机。

500万日元范围内的合适售价

我们消除了所有浪费并模块化了内部结构。已实现初始成本的显着降低。维护也很出色，可以快速更换必要的部件。