X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。
本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。
1、高能微焦斑X射线源：同时具备焦斑尺寸小、光通量高、输出波长短等特点，可大幅提升高压衍射实验的核心技术指标，即超高压样品环境、高数据通量以及低数据背景。
高亮度铟靶X射线光源(波长：0.51 Å)不同模式下的参数如下：
高通量模式
焦斑大小
90 μm FWHM
通量
1.9 × 108 ph/s
发散度
3.15 mrad
小焦斑模式
焦斑大小
15 μm FWHM
通量
1.8 × 107 ph/s
发散度
12.6 mrad
特殊模式
焦斑大小
10 μm FWHM
通量
1× 106 ph/s
发散度
2 mrad
微焦斑Ag靶模式下的参数如下：
焦斑大小
80 μm FWHM
通量
1.5× 107 ph/s
发散度
5 mrad
2、大面积、单光子计数探测器：大面积探测器可在保证数据采集范围的同时提高衍射数据分辨率。另外，配合短波长的光源大面积探测器也可以获得更多的衍射峰数量，从而提高晶体结构的分辨率。配备CdTe传感器的单光子计数型探测器，可大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。
3、五维样品台：采用在国际上同步辐射实验装置所使用的*旋转中心定位法的基础上，进行了优化，利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。该方法具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。同时，该系统在增加相应的软件后，可以进行高压单晶 X 射线衍射实验，实现一机两用。
