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  • 高绝缘电阻测量仪

高绝缘电阻测量仪

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  • 型号
  • 品牌
  • 所在地北京市
  • 更新时间2023-07-11
  • 厂商性质生产厂家
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北京纵横金鼎仪器设备有限公司(简称金鼎仪器,JDYQ)于2016年注册成立,注册资金5000万元。是以中国航空航天研究院,清华大学,北京航空航天大学,北京工业大学精仪系专家作为公司技术团队。公司致力于各类试验仪器的研发、生产、制造及销售,并有自主研发软件的专业团队,公司总部坐落于美丽富饶的政治经济文化交流中心——北京市,物华天宝,人杰地灵。
公司自创建以来,一直保持着健康稳定的发展态势,并以超过30%的年均增长速度快速持续发展,完善的客户服务体系,确保了金鼎仪器产品的设计*,质量稳定,供货及时和服务周到。公司拥有自主的设计资质。公司拥有一批专业从事设计、制造、安装、调试及售后服务的员工队伍:在软件设计和技术研发上,公司拥有清华大学、工业大学工程师的专家团队和专业*、勇于创新的中青年专业技术人员和项目人员;金鼎仪器本着“铸造辉煌,唯有质量”的坚定信念。
    金鼎仪器立志打造专业精深,通过不断创新及与用户的深入合作持续改进产品,保证用户对品牌的*信任。我们对品牌成功的定义或许与众不同,我们的目标是成为国内用户二次购买率高的试验仪机品牌,即用户流失率低的企业。

    展望未来,金鼎仪器正在以打造基业长青百年企业的发展目标为指导,全面提升内部管控,按照专业化、规模化、品牌化、资本化的发展策略,持续发展。同时,金鼎仪器不断致力于与企业集团强强合作,以共创中国精密仪器行业的美好明天而不断努力。

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描述:型高绝缘电阻测量仪是按照国家标准GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固体绝缘材料体电阻率和表面电阻率试验方法》研制的多用途综合测量装置,它可以测试固体绝缘材料体电阻率和表面电阻率,也可单独作为超高电阻计或微弱电流表使用。
高绝缘电阻测量仪 产品详情

LST-122型(固体绝缘材料高绝缘电阻测量仪)!是按照国家标准GB/T 1410-2006/IEC 60093:1980:《固体绝缘材料体电阻率和表面电阻率试验方法》研制的多用途综合测量装置,它可以测试固体绝缘材料体电阻率和表面电阻率,也可单独作为超高电阻计或微弱电流表使用。

测试仪特增设双窗口同步显示测试结果(电阻率或表面电阻)及测试条件(电压或电流)功能

高绝缘电阻测量仪器主要由主机、高压测试台等部分组成。主机主要由高压电源、数控可编程放大器、高分辨率ADC、键盘输入、显示驱动及嵌入式单片机系统组成。高压测试台主要由标准环形三电极和连接线等组成!对于小面积高阻薄膜类样品方阻测试可以选配小型方阻探头。

器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;可自动/手动转换量程,测试结果由数字表头直接显示。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、测量简便、读数方便等特点。

本仪器适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。

二、技术参数

1. 测量范围、分辨率测试电压范围UX: 0.1V ~1000V.

电阻测试范围RX: 1×102Ω ~5×1018Ω,   分辨率1/2000,

电流测试范围IX: 1.5× 10-3A ~ 10× 10-12A,分辨率1/2000。

体积电阻率测试范围ρV: FV×102Ω-cm ~FV×1018Ω-cm,FV体电阻率修正系数1~99,默认标准三电极FV=23.76cm/h

表面电阻率测试范围ρS: FS×102Ω/□~FS×1018Ω/□,FS表面电阻率修正系数1~99,默认标准三电极FS=34.55

2.电阻量程划分(电阻率要乘以相应修正系数1~99)、测试条件及误差等级

序号

量程

有效测量范围

测试电压

测试电流

误差

1

103Ω-cm/□

0.100~1.000

1.00V

1.000~0.100 mA

±5% FSB

2

103Ω-cm/□

01.00~10.00

10.0V

1.000~0.100 mA

±3% FSB

 

3

103Ω-cm/□

010.0~450.0

100V

1.000~0.100 mA

4

106Ω-cm/□

0.450~4.500

500V

1.000~0.100 mA

5

106Ω-cm/□

04.50~50.00

500V

100.0~010.0μA

±5% FSB

6

106Ω-cm/□

050.0~500.0

500V

10.00~1.00μA

7

109Ω-cm/□

0.500~5.000

500V

1.000~0.100μA

8

109Ω-cm/□

05.00~50.00

500V

100.0~010.0 nA

 

±8%FSB

 

9

109Ω-cm/□

050.0~500.0

500V

10.00~01.00 nA

10

1012Ω-cm/□

0.500~5.000

500V

1.000~0.100 nA

11

1012Ω-cm/□

05.00~50.00

500V

100.0~010.0 pA

±10%FSB






3. 可测半导体材料尺寸(以标准电极为)

        径:  测试台直接测试方式 宽(W)×长(L)≥90mm×90mm,或直径 Φ≥90mm

        度:  测试台直接测试方式 厚度d≤2.5mm,   

4. 电源:

功耗:主机< 15W

输入: 220V±10%   50Hz

5. 本仪器工作条件为:

    度:   0~35℃

相对湿度:   ≤60%

工作室内应无强电磁场干扰,不与高频设备共用电源。

6. 外形尺寸:

      机:  320mm(长)×320 mm(宽)×135mm(高)

高压测试台:  Φ=100mm(底座直径)×80 mm(高)


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