XRF-6500 有害金属分析仪-仪表网

公司介绍主营产品

*代理美国 Thermo、日本 SEIKO 及韩国 Micro Pioneer的 X-射线测厚仪。此仪器主要应用于线路板的镀层或涂层厚度的测量，而且特别适用于对微细表面积或超薄镀层的测量。此外，针对PCB线路板生产的不同工序，我司亦有以下不同产品可供选择：1 韩国Micro Pioneer X-射线测厚仪1 美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪1 美国禾威(WALCHEM)电镀药液自动添加系统1 日本SEIKO(SII)X射线萤光测厚仪及元素分析仪1 日本KETT手提式涡流 / 磁感测试仪1 美国CECO PCB基材测试系统1 美国ECI电镀药液分析系统1 美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪1 美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国WTW实验室 / 工业用水质检查系统1 美国DeltaTRAK温度测试仪器多年来，我们一直致力于为半导体生产行业，PCB 厂商及一般电镀业等行业提供优质服务，让客户满意，为客户较大限度创造价值是我们始终坚持的目标，因为我们相信，客户的需要就是我们前进的动力。德国SCAN-DIA半自动研磨机德国SCAN-DIA微型低速切片机美国EXTECH金相切片机美国EXTECH研磨机美国EXTECH双盘研磨机美国EXTECH自动研磨机取样切割碟钻石磨光膏,粉,剂水晶胶凝胶杯沙纸&绒布样品夹微型*微型真空抽气泵金相切片测量套装金相测量软件美国UNITRON高级金相显微镜美国UNITRON直立式金相显微镜美国UNITRON倒立式金相显微镜德国 Roentgenanalytik X射线荧光测厚仪

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手提式伊诺斯有害金属分析仪是一种可以快速，便捷分析出以上有害元素的仪器。使用一台伊诺斯可以同时检定出以上5种及更多的有害元素。检测限度*ROHS法令要求。

有害金属分析仪产品详情

手提式伊诺斯有害金属分析仪是一种可以快速，便捷分析出以上有害元素的仪器。使用一台伊诺斯有害金属分析仪可以同时检定出以上5种及更多的有害元素。检测限度*ROHS法令要求，重量仅1公斤。并且同时具有无损，快速（测量时间在30秒到300秒，可由用户自行设定），不需要取样等优点。

手提式伊诺斯在进行检测方面应用具有：

快速，直观：通常使用120秒的检测时间就可达到ROHS法令的要求
无损不破坏：由于采用X荧光能量色散原理，不需要取样及破坏待测样品
使用成本低: 其价格仅为台式XRF检测仪的50%，并且不需要专门使用专业检测人员，

普通QA员工经过1天左右培训后就能熟练操作该仪器。

异型的zui低检测能力
Cd	20ppm
Pb，Hg	6ppm
Br	5ppm
Cr	20ppm
Sb	45ppm

关键词：金属分析仪

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