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仪表网>产品库>分析检测>无损伤检测>其他检测仪>德国roentgenanalytik品牌X射线荧光镀层测厚仪
  • 德国roentgenanalytik品牌X射线荧光镀层测厚仪

ComPact eco 德国roentgenanalytik品牌X射线荧光镀层测厚仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号ComPacteco
  • 品牌
  • 所在地上海市
  • 更新时间2023-07-19
  • 厂商性质经销商
  • 入驻年限1
  • 实名认证已认证
  • 产品数量250
  • 人气值182
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*代理美国 Thermo、日本 SEIKO 及韩国 Micro Pioneer的 X-射线测厚仪。此仪器主要应用于线路板的镀层或涂层厚度的测量,而且特别适用于对微细表面积或超薄镀层的测量。此外,针对PCB线路板生产的不同工序,我司亦有以下不同产品可供选择:1 韩国Micro Pioneer X-射线测厚仪1 美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪1 美国禾威(WALCHEM)电镀药液自动添加系统1 日本SEIKO(SII)X射线萤光测厚仪及元素分析仪1 日本KETT手提式涡流 / 磁感测试仪1 美国CECO PCB基材测试系统1 美国ECI电镀药液分析系统1 美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪1 美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国WTW实验室 / 工业用水质检查系统1 美国DeltaTRAK温度测试仪器多年来,我们一直致力于为半导体生产行业,PCB 厂商及一般电镀业等行业提供优质服务,让客户满意,为客户较大限度创造价值是我们始终坚持的目标,因为我们相信,客户的需要就是我们前进的动力。德国SCAN-DIA半自动研磨机德国SCAN-DIA微型低速切片机美国EXTECH金相切片机美国EXTECH研磨机美国EXTECH双盘研磨机美国EXTECH自动研磨机取样切割碟钻石磨光膏,粉,剂水晶胶凝胶杯沙纸&绒布样品夹微型*微型真空抽气泵金相切片测量套装金相测量软件美国UNITRON高级金相显微镜美国UNITRON直立式金相显微镜美国UNITRON倒立式金相显微镜德国 Roentgenanalytik X射线荧光测厚仪

点击展示更多内容
Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱*.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*
德国roentgenanalytik品牌X射线荧光镀层测厚仪 产品详情

 

德国roentgenanalytik品牌X射线荧光镀层测厚仪:
Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱*.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm

自动测量功能:编程测量,自定测量
修正测量功能:底材修正,已知样品修正
定性分析功能:光谱表示,光谱比较
定量分析功能:合金成份分析
数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,*的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.*超越其他品牌的所谓FP软件.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

关键词:测厚仪 标准
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