Calmetrics 膜厚仪标准片Calibration Standard-仪表网

公司介绍主营产品

*代理美国 Thermo、日本 SEIKO 及韩国 Micro Pioneer的 X-射线测厚仪。此仪器主要应用于线路板的镀层或涂层厚度的测量，而且特别适用于对微细表面积或超薄镀层的测量。此外，针对PCB线路板生产的不同工序，我司亦有以下不同产品可供选择：1 韩国Micro Pioneer X-射线测厚仪1 美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪1 美国禾威(WALCHEM)电镀药液自动添加系统1 日本SEIKO(SII)X射线萤光测厚仪及元素分析仪1 日本KETT手提式涡流 / 磁感测试仪1 美国CECO PCB基材测试系统1 美国ECI电镀药液分析系统1 美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪1 美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国WTW实验室 / 工业用水质检查系统1 美国DeltaTRAK温度测试仪器多年来，我们一直致力于为半导体生产行业，PCB 厂商及一般电镀业等行业提供优质服务，让客户满意，为客户较大限度创造价值是我们始终坚持的目标，因为我们相信，客户的需要就是我们前进的动力。德国SCAN-DIA半自动研磨机德国SCAN-DIA微型低速切片机美国EXTECH金相切片机美国EXTECH研磨机美国EXTECH双盘研磨机美国EXTECH自动研磨机取样切割碟钻石磨光膏,粉,剂水晶胶凝胶杯沙纸&绒布样品夹微型*微型真空抽气泵金相切片测量套装金相测量软件美国UNITRON高级金相显微镜美国UNITRON直立式金相显微镜美国UNITRON倒立式金相显微镜德国 Roentgenanalytik X射线荧光测厚仪

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美国Calmetrics膜厚仪标准片Calibration Standard【请直接：】

膜厚仪标准片Calibration Standard 产品详情

美国THERMO/CalMetrics X-RAY镀层膜厚测试仪标准片

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。如:

单镀层：Ag/xx, 双镀层：Au/Ni/xx , 三镀层：Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层：Sn-Pb/xx, 化学镀层：Ni-P/xx.

我们可以根据客户不同的金属元素,镀层结构,镀层厚度等要求向美国工厂定做标准片,并可出据标准片厚度值证书.

关键词：标准测厚仪

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