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  • 手持式β射线涂镀层测厚仪

CMS型 手持式β射线涂镀层测厚仪

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面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号CMS型
  • 品牌
  • 所在地上海市
  • 更新时间2023-07-20
  • 厂商性质经销商
  • 入驻年限1
  • 实名认证已认证
  • 产品数量250
  • 人气值182
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*代理美国 Thermo、日本 SEIKO 及韩国 Micro Pioneer的 X-射线测厚仪。此仪器主要应用于线路板的镀层或涂层厚度的测量,而且特别适用于对微细表面积或超薄镀层的测量。此外,针对PCB线路板生产的不同工序,我司亦有以下不同产品可供选择:1 韩国Micro Pioneer X-射线测厚仪1 美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪1 美国禾威(WALCHEM)电镀药液自动添加系统1 日本SEIKO(SII)X射线萤光测厚仪及元素分析仪1 日本KETT手提式涡流 / 磁感测试仪1 美国CECO PCB基材测试系统1 美国ECI电镀药液分析系统1 美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪1 美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国WTW实验室 / 工业用水质检查系统1 美国DeltaTRAK温度测试仪器多年来,我们一直致力于为半导体生产行业,PCB 厂商及一般电镀业等行业提供优质服务,让客户满意,为客户较大限度创造价值是我们始终坚持的目标,因为我们相信,客户的需要就是我们前进的动力。德国SCAN-DIA半自动研磨机德国SCAN-DIA微型低速切片机美国EXTECH金相切片机美国EXTECH研磨机美国EXTECH双盘研磨机美国EXTECH自动研磨机取样切割碟钻石磨光膏,粉,剂水晶胶凝胶杯沙纸&绒布样品夹微型*微型真空抽气泵金相切片测量套装金相测量软件美国UNITRON高级金相显微镜美国UNITRON直立式金相显微镜美国UNITRON倒立式金相显微镜德国 Roentgenanalytik X射线荧光测厚仪

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美国UPA品牌手持式β射线涂镀层测厚仪CMS:
手持式β射线涂镀层测厚仪 产品详情

快速、简便进行涂/镀层测量

世界上*款手持式β射线测量仪器
精确测量涂镀层厚度
在生产线上可作为手持式仪器,在质量控制实验室可作为台式仪器使用
● 多样化的探针和探针台设备可测量大多数不同尺寸和形状的样品
● 菜单控制、友好操作界面的软件和易于读数的背景光读数显示
● 可通过USB端口将样品数据传输至电脑
● 人体力学设计,使用舒适、方便、效率高
● 充电式镍电池,可连续测量使用20小时
● 充电底座可充当测量工作台

典型应用:
粘合剂/钢,铝,玻璃;铝/铁镍钴合金,钢,玻璃,硅;
氧化铝/镍合金;巴式合金/青铜,黄铜,铜,铁;
铜/铝,铍,碳,陶瓷,塑胶;铬/铜,铝;
镉/钢,黄铜,不锈钢;化学镍/铝,塑胶;
金/镍,铜,硅,陶瓷;氧化铁/聚酯薄膜;
铅/黄铜,青铜;滑润剂/钢,铝,黄铜,铜;
聚酯薄膜厚度;
镍/铝,铍;钯/镍;
光阻材料/铜;铂/镍;底漆/玻璃;
铑/镍,铜,金;银/铜,镍,陶瓷;
硅/塑胶;焊锡/铜,黄铜;
钽/玻璃;锡/铜,黄铜,钢;
锡镍合金/镍;氮化钛/钢,不锈钢;

MicroDermCMS规格参数:
尺寸:9.5″×5.0″×2.5″
(250mm×125mm×62.5mm)
重量:1.5lbs. (0.65kg)
显示:2″×2.4″(50mm×60mm)
背景光显示区域
320×240像素;¼VGA
存储:100 应用;
20 校准;
350,000 测量结果存储
统计:平均值,标准偏差,
zui大/小值,范围
输出:9针串口至USB
电池:可充电式4AA 2500mAh
NiMH电池

HH-3型和HH-2型探针是zui通用的β射线探针,这些类型探针可以测量大多数不同尺寸和形状的微小样品,如圆柱体、薄片、挡风玻璃、电子元器件和微小面积样品。

SPG-1 Probe Guide

SPG-1用来定位HH-3探针在微小表面积上的测量,如电子元器件。


WF Probe Guide
WF是一款理想的工具应用于航空、汽车或其它需要测量大面积表面的工业(挡风玻璃、金属板、薄板等)


UMS Probe Stand
UMS探测台用于HH-3探针可精确控制测量位置,底台上附有固定设备。

BTF Probe
BTF β射线薄膜厚度测量探针可以测量极其稀薄的湿或干涂层,如冲压滑润剂、底漆、
扁平零件上的粘合剂等。


HH-4 Probe
HH-4探针主要用来测量样品内部便面的涂/镀层,如管形材料、轴承、环形物、圆柱形物体等。


PS 10-A Probe Table
PS-10A工作台用来进行精确、即时测量非常小的零部件和电子元器件,如连接器、接、插脚、接线端等。

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