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  • 日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪

LZ-200J 日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号LZ-200J
  • 品牌
  • 所在地上海市
  • 更新时间2023-07-22
  • 厂商性质经销商
  • 所在地区上海市
  • 实名认证已认证
  • 产品数量250
  • 人气值488
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*代理美国 Thermo、日本 SEIKO 及韩国 Micro Pioneer的 X-射线测厚仪。此仪器主要应用于线路板的镀层或涂层厚度的测量,而且特别适用于对微细表面积或超薄镀层的测量。此外,针对PCB线路板生产的不同工序,我司亦有以下不同产品可供选择:1 韩国Micro Pioneer X-射线测厚仪1 美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪1 美国禾威(WALCHEM)电镀药液自动添加系统1 日本SEIKO(SII)X射线萤光测厚仪及元素分析仪1 日本KETT手提式涡流 / 磁感测试仪1 美国CECO PCB基材测试系统1 美国ECI电镀药液分析系统1 美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪1 美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国WTW实验室 / 工业用水质检查系统1 美国DeltaTRAK温度测试仪器多年来,我们一直致力于为半导体生产行业,PCB 厂商及一般电镀业等行业提供优质服务,让客户满意,为客户较大限度创造价值是我们始终坚持的目标,因为我们相信,客户的需要就是我们前进的动力。德国SCAN-DIA半自动研磨机德国SCAN-DIA微型低速切片机美国EXTECH金相切片机美国EXTECH研磨机美国EXTECH双盘研磨机美国EXTECH自动研磨机取样切割碟钻石磨光膏,粉,剂水晶胶凝胶杯沙纸&绒布样品夹微型*微型真空抽气泵金相切片测量套装金相测量软件美国UNITRON高级金相显微镜美国UNITRON直立式金相显微镜美国UNITRON倒立式金相显微镜德国 Roentgenanalytik X射线荧光测厚仪

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日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪
株式会社ケツト科学研究所
Kett Electric Laboratory
中国区总代理
日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪 产品详情

日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪兼备电磁式与涡电流式功能,而且是内藏打印机的便携式膜厚计。可迅速对应磁性金属上及非磁性金属上的各式各样被膜厚度之测量。

具备统计计算功能,按下操作键即可求出平均值、标准偏差、zui大值、zui小值。

校正、记忆功能、上下限设定功能等。

 
日本KETT品牌LZ-200J型膜厚测试仪 
测量方式
 涡磁两用式
 
测量对象
 磁性金属上非磁性被膜及非磁性金属上绝缘被膜
 
测量范围
 磁:0~1500μm
涡:0~800μm
 
测量精度
 磁:15μm以下±0.3μm;15μm以上±2%
涡:50μm以下±1μm;50μm以上±3%
 
分辨率
 100μm以下:0.1μm;100μm以上:1μm
 
显示方式
 LCD数位荧幕显示
61(D)x29(H)mm
 
zui小测量面积
 5x5mm
 
校正记忆功能
 8组,任何时间开机不需重新校正
 
界限值
功能
 可任意设定上、下限判别功能,超过范围时以音响警示
 
资料记
忆数
 3000点
 
统计功能
 测量次数、平均值、zui大值、zui小值、标准差值
 
测量功能
 单点测试、连续扫瞄测试,可测试膜厚分布变化
 
打印机
 24 character内藏感热式打印机,自动统计记录,纸宽58mm
 
电 源
 AC110V/60Hz或主机单3号电池x6,打印机单3电池x4
 
尺  寸
 120(W)x250(D)x55(H)mm
 
重 量
 约1.1kg
 
测量方式
 内藏测头单点测试
 
测量单位
 公、英制可任意切换(μm/mils)
 
附 属 品
 铁素材、校正用标准片、电池、携带套、操作说明书、曲面固定器、测头、AC插头

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