LA-S植物年轮分析仪系统
一 用途
用于对磨平抛光的植物年轮全盘、木芯进行多参数快速分析
二 特点
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l 人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计
l 自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除
l 自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正
l 具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量
l 分析结果能导出到Excel表，以便存档和统计
三 功能
l 可自动判读年轮数
l 各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积
l 可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮
l 可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力
l 具有年轮图线数据【暂存】【加载】特性，以便日后不断地分析比对。具有【精细】分析的“软件体视镜”特性。有路径端点【吸附】定位特性，对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑，以及可将分析结果图线保存。图线上调整角度具有跟随特性，画路径的时候可【取消】
l 可直接分析达到2亿像素的超高精度扫描的超大幅面年轮图像（能分析在3200dpi分辨率下，成像分析
l 可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像
四 基本技术指标
l LA-S型植物年轮分析系统标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪，用户需另配计算机
l 分析测量面积：反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×
l 植物图像分析测量精度（由扫描仪决定，可软件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差<±0.25%；面积测量重现性误差<±0.25%；台间测量差异<±0.25%
l 测量总时间：30~60秒
l 若需大幅面分析，请选配：光学分辨率1600×3200dpi、A3的Microtek Phantom 9800XL扫描仪
五 产地 中国
