BJ3195 运算放大器测试仪
BJ3195IC测试系统是采用模块化结构而开发的模拟电路测试系统,可测试A/D,D/A,集成运放,电压比较器,模拟开关等模拟器件。
- 测试分辨率高,精度高,电流分辨率zui小,1PA,电压分辨率10μA
- 微机与测试仪一体化,便于用户使用,测试软件使用方便。
- 智能化程度化高,可自校准,自刻度。
- 价格低,性能价格比高。
- 测试不同型号的运算放大器等机内直接切换。
- 可测试12位以下A/D,D/A的直流参数和运算放大器的15个参数。
BJ3195 运算放大器测试仪技术指标:
参数名称 | 量程范围 | 分辨率 | 精度 | |
输入失调 电压VIO | 0--20mA | 10μV | ±0.25%+5μV | |
输入失调 电流IIO | 0--20nA | 10PA | ±2% | |
输入基极 电流IIB | 0--20nA | 10PA | ±2% | |
开环电压 增益AVD | 58--100dB | | ±1dB | |
共模抑制 比KCMR | 43--100dB | | ±1dB | |
电源电压 抑制比KCMR | 43--100dB | | ±1dB | |
zui大输入幅 度±Vopp | 0--±1.6V | 10uV | ±1mV | |
静态功耗 ±IQ | 0--100μA | 5nA | ±0.5%+100nA | |
增益带宽 乘积BW | 200MHz | 0.05MHz | ±10% | |
转换速率 ±SR | 0--10V/μS | 0.01V/μS | ±5% | |
DUT | Vs+ | 0--51V | | ±12.5mV |
Vs- | 0--51V | | ±12.5mV |