德国Inglas TIR100-2红外热发射率测定仪是一款紧凑型手持式分析仪器，采用无损技术，可在几秒钟内测量热辐射率，该设备可用于从低辐射率到高辐射率以及从光滑到高温的多种材料。
有纹理的表面。测量元件，操作控制，控制设备和评估电子设备也都节省了空间，并放置在手持式设备中。仪器操作仅需电源。该设备的操作通过发光的触摸屏显示器实现。
德国Inglas TIR100-2红外热发射率测定仪优势：
数秒内完成测量
通过易于使用的触摸屏实现操作和结果
高测量精度和重现性
测得的样品保持在环境温度下
可在现场或实验室使用的便携式设备
TIR100-2热辐射率仪测量原理：
样品在100°C的温度下经受热辐射。黑体半球形辐射器用于封装样品，以确保均匀照明。以一定角度观察反射的红外辐射，并将其转换为数值。然后根据高和低发射率参考标准的校准表绘制该值。
使用TIR时，只需按一下按钮即可完成所有这些操作。
德国Inglas TIR100-2红外热发射率测定仪功能：
用100°C半球形黑体辐射器漫射物体表面。在属于仪器的校准标准的校准值的帮助下，测量反射的红外辐射并将其转换为发射率的绝1对值。结果立即显示在设备的触摸屏上。
详细的说明手册介绍了测量过程的物理基础以及进行精确测量的方法。
德国Inglas TIR100-2红外热发射率测定仪应用领域:
TIR100-2可用于涂覆过程后的质量控制，或用于实验室的研究和开发。
玻璃的测量结果相当等于
符合EN 12898的结果。
涂层箔作为建筑箔的发射率是
在prEN 15976之后测量。
TIR100-2红外热发射率测定仪技术数据:
测量范围温度。发射率<0,020…0,980
重复精度（精度）+-0.005（lowE）.. +-0,01（hiE）
光谱范围2,5μm-40μm
zui大辐射能8μm
黑体温度100°C
测量时间5秒
测量点约 5毫米
zui大额定功率 130 V在...上230 V〜/ 115 V〜
RS232接口（可选的打印机输出）
尺寸230毫米x 140毫米x 120毫米
重量2.0公斤
参考（校准标准）带肋的铝块，具有佳的热稳定性
低辐射率：高精度研磨铝
高发射率：黑光陷阱
低发射面的参考发射率典型值〜0,012
模具高发射面的典型值> 0.96
出厂时，所有参考文献均已单独调整至国家物理实验室（GB）的校准标准。
| 电压范围 | 90伏交流电– 260伏交流电 |
|---|---|
| 额定功率 | zui大240 VAC zui大130 W 120 VAC 260瓦 |
| 测量范围 | 作为校准标准 |
| 测量不确定度 | +-0,005（lowE）…+ -0,01（hiE） |
| 光谱范围 | 2,5 – 40µm |
| λzui大辐射能量的 | 7.8微米 |
| 散热器温度 | 100°摄氏度 |
| 测量持续时间 | 大约 5秒 |
| 测量点 | 大约 5毫米 |
| 界面 | USB-B |
| 尺寸 | 230毫米x 140毫米x 120毫米 |
| 重量 | TIR100-2：大约 2,0公斤 |
TIR100-2红外热发射率测定仪标配包括：
TIR100-2型号，您可以选择电源电压（115V或230V）。
二合一校准标准：抛光铝的低发射率值侧和黑体阱的高发射率侧。
校准标准的校准证书，可追溯至柏林（GER）的Physikalisch-Technische Bundesanstalt（PTB）的参考标准，参考。编号73213 PTB 16和73214 PTB16。有效期为两年。
可上锁的便携式硬质铝制外壳，可轻松存储和运输TIR100-2和标准件。
英文印刷版手册。
TIR100-2红外热发射率测定仪，TIR100-2热辐射率仪可选配：铝箔支架
箔片固定器是一种实用的设备，可将薄涂层的箔片样品（和其他纺织品）平整且均匀地夹持在固定器板的整个表面上，如图所示。
两侧各使用两个磁夹将样品锁定在适当的位置。
使用箔架的另一个好处是可以帮助样品在测量过程中保持室温更长的时间。当使用薄材料（如薄涂层的箔）时，这将有助于减少波动，从而提高发射率结果的准确性。
TIR100-2红外热发射率测定仪测量方法：
图片展示：
