■仪器原理
能量色散X荧光光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点,将来自试样的荧光X射线依次检测,得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲,经放大器放大后送到多道脉冲分析器。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数,脉冲幅度可以用X光子的能量标度,从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线,即X光能谱图。
■产品特点
1.采用美*原装电致冷高性能Si-PIN探测器,分辨率高,探测范围宽,涵盖RoHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。
2. 配置*的DPP数字多道信号集成处理器,比普通模拟多道信号处理器性能更佳,尤其在高计数率时有较好的分辨力(如Hg和Cl等),高达80MHz的数据传输速度使分析时间更短,测量重复性和长期稳定性较好。
3. 内置高清摄像系统,清晰观察样品,准确定位样品测试区域。
4. 配套新的FP测量软件,集成多种谱图处理算法和基体校正算法,降低仪器测量中的各种干扰谱峰,使低含量和痕量元素的检测结果