激光光束分析仪

系统构成

    专用采集卡    软件包    光学暗箱（含分光衰减系统、轨道等）

    ST.59-2000系列备有IV型和H型两种光学暗箱    台式电脑（选购）

     ST.59-2000激光光束分析仪由以下部分组成：
    1. 基本系统：
      专用图象采集卡：用于采集来自光图象探测器的模拟信号，将其变为PC机可接受的数字信号后送入PC机处理；

      专用软件包：由“实时探测”，“存贮功能”，“分析测试”等几部分组成  

    2. 图象探测器：
     根据被测激光的波长，选择适当的图象探测器的一种或几种：

标准配置：1/2英寸CCD（电荷耦合器件）探测器，光谱响应为可见及近红外波段（360nm－1100nm） 。该CCD  适用于大多数常用激光器，如He-Ne，Ar离子，Nd:YAG、Nd:YVO4及其二、三次倍频（532、355nm） ，半导体发光管及激光管，染料及钛宝石激光器等，这些激光器的波长均在其标配CCD的敏感波长范围内。该CCD的图像敏感面积为 6.4 x 4.8 mm2。 特殊需求可选配其他规格的CCD。

其它可选图像探测器：

a)     2/3“英寸CCD（360nm－1100nm，图像敏感面积8.8 x 6.6 mm2）

b） 红外敏化型CCD （红外响应至1310、1650nm）

c） 可见及近红外光电阴极摄像管
    使用PbO，PbS光电阴极的真空摄像管作为图象探测器。适用于0.4 ～ 1.9µ 波长范围的探测， 增强型可探测 0.4 ～ 2.2µ。

d)  热电型探测器（Pyroelectric）
    主要用于测量CO2激光(10.6µ)及其倍频等。波长范围为0.8 ~ 20µ 红外激光。 

 3.光学暗箱  

      由于被探测的激光强度通常高出图象探测器接收灵敏度若干个量级，因此必须将被测激光强度衰减到探测器的线性工作区内。光学暗箱提供分光、衰减系统，使被测激光束无畸变地衰减到CCD的响应区（线性工作区），并屏蔽来自多方面的杂散光，使其不干扰高灵敏的图象探测器。ST.59-2000型光学暗箱由箱体、电源及楔形石英分束器、楔形反射器、衰减系统（固定衰减片组、连续衰减器）、光陷阱、透射屏及光学导轨等组成。      H型光学暗箱的内部结构和所含的元部件与IV型相同：均含石英分光光楔与调节架、反射光楔与调节架、连续衰减器、固定衰减片组、CCD及电源等。   差别是H型使用机箱外轨道；IV使用机箱内轨道

石英光楔分束器

         利用石英光楔的内二次反射对被测光束进行前级无失真衰减（衰减率约0.15%）。 由于光学级石英对被测光束的吸收小、热胀系数小，在较强激光照射下对被测光束功率/能量分布的畸变也极小，适于作为前级衰减。 

 楔形反射镜及二维精密调节架
     利用光楔的前表面反射对经前级衰减的光束进行二次衰减（衰减率约4％）及导向。 

 中性衰减片组：包括连续衰减器和固定衰减片组 

     固定衰减片组  用于较大幅度衰减被测光强。 该组共有6片衰减片，每个衰减数量级2片，其衰减倍率跨3个半数量级。其衰减倍率（db数）按线性分布。

连续衰减器：     为方便衰减倍率的调节，使CCD工作在线性区，IV型光学暗葙内备有连续衰减器。它由两片楔形中性吸收玻璃组成， 当其中1片滑动时， 即改变光束通过两光楔的总光程， 从而可连续改变衰减率， 大大方便了衰减倍率的获取。 

导轨及标尺 

IV型的导轨装在光学暗箱内

IV型的导轨在光学暗箱外，主探测盒（光学暗箱）可在导轨上移动

可使CCD和与其相关的衰减器等部件沿滑轨作整体移动（IV型光学暗箱中的CCD与相关部件间有联锁装置；H型主探测盒整体在导轨上移动），从而改变探测器在光束传播方向的位置，可测量发散角等参数。IV型暗箱内备有I，II两条滑轨。导轨I用于标准探测模式（光束经衰减射入光敏面）；导轨II适用于“透射像摄取”探测模式（适用于获取大尺寸光束图像）、“近摄装置”以及标准模式下需CCD移动距离较长的场合。导轨II上装有备用二维调节架（可放置透镜、反射镜等元件）及透射屏架。

4.电脑及打印机（选购件，标准配置不含） 
     可选用任何可运行Windows 2000/XP的台式机。打印机用于输出测试结果，如使用彩色打印机以输出彩色图象效果更佳。

提示：系统的图像采集卡最多可接3路图像探测器， 软件亦可对来自不同探测器的信号方便切换、独立处理，故对需要经常在不同探测模式间切换的场合可选购“第二导轨部件： IV型光学暗箱内已备有第二导轨，只需另购第二CCD及相关分光衰减部件、电源、信号线等。对IV型则需另购第二个主探测盒。 

★可选附件――近摄装置（选购件）：    

      本近摄装置专用于拍摄近处物体，并可得到可达1.33的放大倍数（放大倍数=像尺寸/物尺寸）。用以拍摄“光斑透射像”可以获取并处理小光束（如几十微米 x 几十微米）的近场像。由于这类小光斑的发散角往往较大，光强较强，故必须保证系统的“物距”足够小，衰减部件也不能影响物距。本近摄装置的设计可保证满足这些条件。（本近摄装置使用“镜后衰减”和镜头光圈双重衰减，从而得到大跨度、连续的衰减）

    本近摄装置配有尺寸标定胶片，用于定量标定透射光束的实际尺度。