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低噪声，高动态范围
系统动态范围是VNA一个非常重要的指标，它是VNA源的输出功率与测试端口本底噪声的差值。SNA5000X的动态范围可达125 dB@10Hz IFBW，接收机噪底-125 dBm/Hz，可适用于对动态范围要求比较高的测试场景，比如同时测量滤波器的通带和带外抑制性能。
SNA5000X系列支持在多个窗口添加多条迹线进行全4端口S参数测试，并且具备多种显示格式，比如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被测物的传输系数，反射系数，驻波比，阻抗匹配，相位，延时等参数。在生产线验证天线，滤波器等的特性时，还可以保存参考迹线或者添加Limit模板进行通过失败测试，有利于提高生产效率。
SNA5000X系列还支持端口阻抗变换功能，比如在测试有源差分放大器时，可将输入输出端口进行阻抗变换，从而进行差分（平衡）测量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等参数）。 此功能还可应用于差分线缆等其他差分类测试。
SNA5000X系列支持TDR时域反射计测量功能，可在时域对传输线的特征阻抗，时延等参数进行分析。
SNA5000X搭载了眼图功能，眼图可以反映信号链路上传输的数字信号的整体特征，从中观察出码间串扰和噪声的影响，进而估计系统的优劣程度。眼图分析是高速系统信号完整性分析的核心，为需要对高速信号进行时域分析的客户节省了大量成本和时间。
在微波射频领域，如何有效消除有害的测试夹具效应是一大挑战。比如在对SMD器件进行测试时需要特定的测试夹具实现测试仪器测试端与器件输入端的转接，导致测试结果中包含了测试夹具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除测试夹具影响的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗转换，去嵌入，适配器移除等。
