EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器特点:
(1)、超高精度(±0.02% F.S.)和分辨率(2nm)
(2)、光斑更小(最小2um)
(3)、测量值无平均化处理
(4)、超高稳定性,透明物体,镜面物体,高光亮金属均可以检测
(5)、厚度测量能力,可同时输出多层厚度及位移值
(6)、具有超大角度测头LHP4-Fc,角度特性±45°
(7)、专门针对自动化应用提供丰富的通讯接口
(8)、提供使用所需配件,DC 24V 3A电源,以太网连接线,IO触发线
(9)、创新技术,彩色光谱共焦:突破常规LED光源亮度分布不均匀局限,全量程精度更高,稳定性更强。半峰宽比常规型小1/2以上, 采样精度是常规性型1.33倍。
(10)、可直接测量玻璃或半透明物体厚度
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器应用领域:
可用于透明,半透明物体测厚,高精度距离、厚度检测
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器技术规格:
EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器测量原理:
白光光源①发出白光,经过光纤分路器③进入光纤传导,再通过针孔④白光到达色散物镜⑤,在被测物一侧产生色散,由于波长不同,只有焦点在被测表面上的光才能被反射透过针孔④, 进入针孔④后方的光谱分析仪②。焦点在被测表面上的光波长在光谱分析仪中体现为峰值,由光谱仪的光谱分布可以判断被测物体的高度。